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Sol-Gel法制备ZrO_2-SnO_2薄膜的常温气敏机理 被引量：6
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作者 方国家 刘祖黎 +1 位作者 张杰 姚凯伦 《材料研究学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第4期357-362,共6页
根据Sol-Gel工艺制备的ZrO2－SnO2薄膜的气敏性能数据，提出了常温下SnO2（ZrO2）薄膜对H2S的气敏机理模型.根据此模型所得定量分析结果与实验结果一致.
关键词 薄膜 常温气敏机理 气敏 二氧化锡 二氧化锆
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