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粉末压片-X-射线荧光光谱法测定五氧化二钒中主次成分
被引量:
16
1
作者
陈荣庆
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第4期8-12,共5页
介绍了粉末压片-X-射线荧光光谱法测定五氧化二钒中V2O5,Si,P,Fe,K2O,Na2O,S含量的分析方法。根据五氧化二钒样品中主次成分含量范围,用高纯试剂配制出具有成分含量梯度的并经其他方法定值的校准样品绘制校准曲线;以仪器提供的...
介绍了粉末压片-X-射线荧光光谱法测定五氧化二钒中V2O5,Si,P,Fe,K2O,Na2O,S含量的分析方法。根据五氧化二钒样品中主次成分含量范围,用高纯试剂配制出具有成分含量梯度的并经其他方法定值的校准样品绘制校准曲线;以仪器提供的基体校正方法消除吸收与增强效应影响,用本文提出的“干扰增量法”测量与计算出重叠校正系数K,输入仪器自动校正,同时评估出干扰元素一定含量影响分析元素的净增含量。该方法与其他方法测定样品结果之间具有良好的一致性,同一试样的11次制片测定,各成分结果的相对标准偏差在0.073%-7.35%范围内。
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关键词
粉末压片
X-射线荧光光谱
五氧化二钒
干扰增量法
主次成分
下载PDF
职称材料
粉末压片-X射线荧光光谱法测定钒渣中的化学成分
被引量:
11
2
作者
陈荣庆
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2008年第3期416-420,共5页
采用试样粉末直接压片,基体效应用仪器软件方法校正,谱线重叠干扰以本文提出的"干扰增量法"测量与计算出重叠校正系数K,输入仪器自动校正。用X射线荧光光谱法测定了钒渣中V2O5,SiO2,A l2O3,CaO,MgO,MnO,TiO2,Cr2O3,S,P含量。...
采用试样粉末直接压片,基体效应用仪器软件方法校正,谱线重叠干扰以本文提出的"干扰增量法"测量与计算出重叠校正系数K,输入仪器自动校正。用X射线荧光光谱法测定了钒渣中V2O5,SiO2,A l2O3,CaO,MgO,MnO,TiO2,Cr2O3,S,P含量。该方法测定钒渣标样的结果与认可值符合良好,试样9次压片测定各成分的相对标准偏差在0.09%—0.64%范围内。
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关键词
粉末压片
X射线荧光光谱
钒渣
干扰增量法
谱线重叠校正
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职称材料
题名
粉末压片-X-射线荧光光谱法测定五氧化二钒中主次成分
被引量:
16
1
作者
陈荣庆
机构
攀钢技术质量部
出处
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第4期8-12,共5页
文摘
介绍了粉末压片-X-射线荧光光谱法测定五氧化二钒中V2O5,Si,P,Fe,K2O,Na2O,S含量的分析方法。根据五氧化二钒样品中主次成分含量范围,用高纯试剂配制出具有成分含量梯度的并经其他方法定值的校准样品绘制校准曲线;以仪器提供的基体校正方法消除吸收与增强效应影响,用本文提出的“干扰增量法”测量与计算出重叠校正系数K,输入仪器自动校正,同时评估出干扰元素一定含量影响分析元素的净增含量。该方法与其他方法测定样品结果之间具有良好的一致性,同一试样的11次制片测定,各成分结果的相对标准偏差在0.073%-7.35%范围内。
关键词
粉末压片
X-射线荧光光谱
五氧化二钒
干扰增量法
主次成分
Keywords
powder press slice
X-ray fluorescence spectrometry
vanadic oxide
interference incrementmethod
major and minor component
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
下载PDF
职称材料
题名
粉末压片-X射线荧光光谱法测定钒渣中的化学成分
被引量:
11
2
作者
陈荣庆
机构
攀钢技术质量部化验科
出处
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2008年第3期416-420,共5页
文摘
采用试样粉末直接压片,基体效应用仪器软件方法校正,谱线重叠干扰以本文提出的"干扰增量法"测量与计算出重叠校正系数K,输入仪器自动校正。用X射线荧光光谱法测定了钒渣中V2O5,SiO2,A l2O3,CaO,MgO,MnO,TiO2,Cr2O3,S,P含量。该方法测定钒渣标样的结果与认可值符合良好,试样9次压片测定各成分的相对标准偏差在0.09%—0.64%范围内。
关键词
粉末压片
X射线荧光光谱
钒渣
干扰增量法
谱线重叠校正
Keywords
Powder Pressed Slice
X-Ray Fluorescence Spectrometry
Vanadium Slag
Interference Incremental Method
Spectra Overlap Correction
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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职称材料
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作者
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1
粉末压片-X-射线荧光光谱法测定五氧化二钒中主次成分
陈荣庆
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
2008
16
下载PDF
职称材料
2
粉末压片-X射线荧光光谱法测定钒渣中的化学成分
陈荣庆
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2008
11
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职称材料
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