复合衰落信道的衰落统计分析

该文基于条件概率密度方法分析复合衰落信道下接收信号包络及其导数的联合概率密度函数,由此得到了复合衰落信道的平均电平交叉率和平均衰落持续时间的统一表达式,最后结合高斯-厄米特积分给出Rayleigh-Lognormal,Ricean-Lognormal,Nakagami-Lognormal 3种典型复合衰落下接收包络的概率密度函数、累积分布函数、平均电平交叉率、平均衰落持续时间的近似解析式。仿真结果验证了理论分析的正确性。

分布式天线系统中选择合并的衰落统计分析(英文)

对于采用选择合并方案的分布式天线系统,当各分集支路经受独立且不等同分布的复合衰落时,分析了系统合并输出包络的平均电平交叉率和平均衰落持续时间,得到这些二阶统计量的精确表达式.该方法对于任意分集支路数目下的Rayleigh-lognormal,Ricean-lognormal和Nakagami-lognormal三种复合衰落环境均是有效的.仿真结果验证了所得表达式的正确性.

基于Simulink~的复合衰落信道仿真与分析

基于Simulink(R)平台建立了Rayleigh-Lognormal、Ricean-Lognormal、Nakagami-Lognormal复合衰落信道的仿真模型,这些模型可用于进行单频组网的DRM系统的设计和性能分析.给出了各种复合衰落的概率密度函数、累积分布函数、平均电平交叉率、平均衰落时间的统一表达式.仿真结果验证了理论分析结果的正确性.