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AFM测试参数对等高粗糙表面黏着影响的实验研究
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作者 陈荣誉 黄平 《润滑与密封》 CAS CSCD 北大核心 2016年第5期6-9,共4页
采用具有600 nm周期的一维硅光栅来表示等高粗糙表面,研究AFM的测试参数对等高粗糙表面的黏着影响。实验所使用的探针为平头探针(PL2-CONTR-10,Nanosensors),其针尖直径为2μm,实验分别在空气中以及干燥环境下进行,通过力曲线的测量,计... 采用具有600 nm周期的一维硅光栅来表示等高粗糙表面,研究AFM的测试参数对等高粗糙表面的黏着影响。实验所使用的探针为平头探针(PL2-CONTR-10,Nanosensors),其针尖直径为2μm,实验分别在空气中以及干燥环境下进行,通过力曲线的测量,计算出黏着力的平均值以及标准差。结果表明:载荷与停留时间会引起黏着力的略微增大或减小,但总体影响不是很大;在空气中,随着退针速率加快,黏着力先表现出先增大然后减小的趋势;而在干燥环境下,黏着力随着退针速率的加快逐渐减小。 展开更多
关键词 等高粗糙 硅光栅 AFM 黏着 平头探针
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