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题名AFM测试参数对等高粗糙表面黏着影响的实验研究
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作者
陈荣誉
黄平
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机构
华南理工大学机械与汽车工程学院
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出处
《润滑与密封》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第5期6-9,共4页
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基金
国家自然科学基金项目(51175182)
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文摘
采用具有600 nm周期的一维硅光栅来表示等高粗糙表面,研究AFM的测试参数对等高粗糙表面的黏着影响。实验所使用的探针为平头探针(PL2-CONTR-10,Nanosensors),其针尖直径为2μm,实验分别在空气中以及干燥环境下进行,通过力曲线的测量,计算出黏着力的平均值以及标准差。结果表明:载荷与停留时间会引起黏着力的略微增大或减小,但总体影响不是很大;在空气中,随着退针速率加快,黏着力先表现出先增大然后减小的趋势;而在干燥环境下,黏着力随着退针速率的加快逐渐减小。
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关键词
等高粗糙
硅光栅
AFM
黏着
平头探针
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Keywords
equal roughness
silicon grating
AFM
adhesion
plateau probe
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分类号
TH117.1
[机械工程—机械设计及理论]
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