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测量光波导参数的漏模法:使用棱镜耦合器的新技术
1
作者
李丽娜
金锋
李玉善
《量子电子学》
CSCD
1989年第1期57-63,共7页
由使用棱镜耦合器的一种新技术即漏模法,测量了平板玻璃光波导的参数(薄膜的折射率和厚度)。测得的波导参数在测量误差范围内与用导模法测得的数据一致。漏模法和导模法联用,提高了光波导参数的测量精度。对于这两种方法的误差来源,在...
由使用棱镜耦合器的一种新技术即漏模法,测量了平板玻璃光波导的参数(薄膜的折射率和厚度)。测得的波导参数在测量误差范围内与用导模法测得的数据一致。漏模法和导模法联用,提高了光波导参数的测量精度。对于这两种方法的误差来源,在理论上作了分析和比较。
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关键词
光
波导
漏
模法
平板漏波导
棱镜耦合器
下载PDF
职称材料
题名
测量光波导参数的漏模法:使用棱镜耦合器的新技术
1
作者
李丽娜
金锋
李玉善
机构
中国科学院长春物理所
出处
《量子电子学》
CSCD
1989年第1期57-63,共7页
文摘
由使用棱镜耦合器的一种新技术即漏模法,测量了平板玻璃光波导的参数(薄膜的折射率和厚度)。测得的波导参数在测量误差范围内与用导模法测得的数据一致。漏模法和导模法联用,提高了光波导参数的测量精度。对于这两种方法的误差来源,在理论上作了分析和比较。
关键词
光
波导
漏
模法
平板漏波导
棱镜耦合器
分类号
TN252 [电子电信—物理电子学]
TN622 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
测量光波导参数的漏模法:使用棱镜耦合器的新技术
李丽娜
金锋
李玉善
《量子电子学》
CSCD
1989
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