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平栅型双层膜的场致发射性能研究
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作者 林金阳 陈知新 +1 位作者 张国成 谢文明 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第7期1845-1848,1853,共5页
通过在平栅型基板上,分别溅射氧化铋薄膜和氧化锡薄膜,形成阴极场发射阵列,并在阴极和栅极之间加载脉冲电流,使阴栅级之间的薄膜形成裂缝,并进行场致发射性能测试,测试结果表明,平栅型双层膜发射器件的开启电压随阳极电压增加而降低。... 通过在平栅型基板上,分别溅射氧化铋薄膜和氧化锡薄膜,形成阴极场发射阵列,并在阴极和栅极之间加载脉冲电流,使阴栅级之间的薄膜形成裂缝,并进行场致发射性能测试,测试结果表明,平栅型双层膜发射器件的开启电压随阳极电压增加而降低。在阳压为3000 V,隔离子高度为500μm时,平栅型双层膜场发射器件的开启电压为110 V,在栅压为110 V时的发射效率为1%左右,随着栅压的增大,发射效率逐渐减小。该双层膜阴极具有均匀的发射性能、良好的栅控能力以及场发射特性。 展开更多
关键词 平栅结构 场发射 双层膜 SNO2
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电泳法制备平栅极碳纳米管场发射阴极及场发射特性研究
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作者 赵文中 祁康成 +1 位作者 文永亮 李鹏 《电子器件》 CAS 北大核心 2012年第1期15-17,共3页
采用电泳法在ITO玻璃基板上选择性制备了碳纳米管(CNTs)阴极薄膜,采用电子扫描(SEM)分析了CNTs薄膜的表面形貌,并测试了碳纳米管阴极的场致发射特性。结果表明,利用电泳法制得的碳纳米管阴极薄膜均匀性、致密性良好,且具有较大发射电流... 采用电泳法在ITO玻璃基板上选择性制备了碳纳米管(CNTs)阴极薄膜,采用电子扫描(SEM)分析了CNTs薄膜的表面形貌,并测试了碳纳米管阴极的场致发射特性。结果表明,利用电泳法制得的碳纳米管阴极薄膜均匀性、致密性良好,且具有较大发射电流密度;通过控制共面栅控CNTs场发射阴极的栅极电位能够有效控制阴极的场发射电流密度。当阳极电压为450 V,栅极电压230 V时,发射电流密度达到7.6 mA/cm2。 展开更多
关键词 场致发射 碳纳米管 电泳法 平栅结构
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应用于LCD的平栅型碳纳米管场致发射显示器背光源的研制 被引量:7
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作者 张永爱 林金阳 +1 位作者 吴朝兴 郭太良 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第5期673-676,共4页
采用磁控溅射、光刻和湿法刻蚀技术制备平栅型场发射阴极阵列,利用电泳将碳纳米管(CNT)发射源沉积在阴极表面,将阴极板和阳极板封接后制成51 cm单色平栅型CNT场致发射显示器(CNT-FED),作为背光源模板应用于49 cm液晶显示器(LCD)器件中... 采用磁控溅射、光刻和湿法刻蚀技术制备平栅型场发射阴极阵列,利用电泳将碳纳米管(CNT)发射源沉积在阴极表面,将阴极板和阳极板封接后制成51 cm单色平栅型CNT场致发射显示器(CNT-FED),作为背光源模板应用于49 cm液晶显示器(LCD)器件中。场发射测试表明,器件在阳极电压3 500 V、栅极电压290 V时,阳极电密度高达81.3μA/cm2,最高亮度可达7000 cd/m2,均匀性为96%;稳定发射7 h后,发射电流无明显衰减。以背光源形式应用于49 cm×25.4 mm LCD器件,亮度可达205 cd/m2。 展开更多
关键词 场致发射 结构 碳纳米管(CNT) 背光源(BLU) 液晶显示器(LCD)
原文传递
Static Induction Devices with Planar Type Buried Gate 被引量:1
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作者 王永顺 李思渊 胡冬青 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第2期126-132,共7页
Based on the surface-gate and buried-gate structures,a novel buried-gate structure called the planar type buried-gate (PTBG) structure for static induction devices (SIDs) is proposed.An approach to realize a buried-ga... Based on the surface-gate and buried-gate structures,a novel buried-gate structure called the planar type buried-gate (PTBG) structure for static induction devices (SIDs) is proposed.An approach to realize a buried-gate type static induction transistor by conventional planar process technology is presented.Using this structure,it is successfully avoided the second epitaxy with a high degree of difficulty and the complicated mesa process in conventional buried gate.The experimental results demonstrate that this structure is desirable for application in power SIDs.Its advantages are high breakdown voltage and blocking gain. 展开更多
关键词 static induction device planar type buried gate structure blocking voltage limiting field ring
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