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修正飞针测试系统测试点坐标的解决方法
被引量:
2
1
作者
左宁
高慧莹
《电子工业专用设备》
2017年第5期36-40,45,共6页
飞针测试系统是用来测量混合电路板、LTCC基板、PCB板的各网络间开路、短路、绝缘以及电容的专业电子芯片检测设备。针对飞针测试系统中测试坐标点的修正提出了一种解决方法,不仅能准确得出对待测基片的平移偏距,也能够通过算法计算出...
飞针测试系统是用来测量混合电路板、LTCC基板、PCB板的各网络间开路、短路、绝缘以及电容的专业电子芯片检测设备。针对飞针测试系统中测试坐标点的修正提出了一种解决方法,不仅能准确得出对待测基片的平移偏距,也能够通过算法计算出待测基片的旋转角度,综合考虑平移和旋转这两点的因素最终确定待测点的实际位置坐标。
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关键词
飞针测试系统
坐标修正
平移偏距
旋转角度
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职称材料
题名
修正飞针测试系统测试点坐标的解决方法
被引量:
2
1
作者
左宁
高慧莹
机构
中国电子科技集团公司第四十五研究所
出处
《电子工业专用设备》
2017年第5期36-40,45,共6页
文摘
飞针测试系统是用来测量混合电路板、LTCC基板、PCB板的各网络间开路、短路、绝缘以及电容的专业电子芯片检测设备。针对飞针测试系统中测试坐标点的修正提出了一种解决方法,不仅能准确得出对待测基片的平移偏距,也能够通过算法计算出待测基片的旋转角度,综合考虑平移和旋转这两点的因素最终确定待测点的实际位置坐标。
关键词
飞针测试系统
坐标修正
平移偏距
旋转角度
Keywords
Flying probe test system
Coordinate correction
Offset translation
Rotation angle
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
发文年
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1
修正飞针测试系统测试点坐标的解决方法
左宁
高慧莹
《电子工业专用设备》
2017
2
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