TiAl的平面缺陷能与R现象的电子理论

金属间化合物ＴｉＡｌ是极有发展前景的新一代高温结构材料，其Ｒ现象受到广泛研究。首先根据固体与分子经验电子理论（ＥＥＴ）由ＢＬＤ方法计算了ＴｉＡｌ的价电子结构，然后通过分析位错在ＴｉＡｌ（１１１）面上滑移前后原子排列关系的变化，由键能公式近似计算了三种平面缺陷ＡＰＢ，ＣＳＦ和ＳＦ的能量。据此分析了ＴｉＡｌ的Ｒ现象的内在机制。结果表明，由于ＴｉＡｌ的ＡＰＢ能量远大于ＳＦ的，ＴｉＡｌ的Ｒ现象不可能是单一Ｋ—Ｗ位错交滑移钉扎机制独立所为，因温度激活导致的孪生交割钉扎机制也有很大的贡献。

含平面缺陷的压力管道在静载下的可靠性指标

以 Lr为广义强度 ,以 Kr为广义应力 ,参照 SAPV— 95规范得出了功能函数 M,据此对静载下含平面缺陷的压力管道进行了可靠性分析 ;提出了计算其可靠性指标的快速收敛的迭代算法 ,并分析了可靠性指标与 Lr 和 Kr的均值及变异系数的关系 ,得出了可靠性指标能定量衡量静载下含平面缺陷的压力管道的安全状况的结论。

随机载荷下含表面平面缺陷结构的安全评定

许多含有表面平面缺陷的金属结构都受到随机载荷的作用。以结构可靠度为基础探讨了随机载荷对结构安全评定的影响。通过统计结构所承受的载荷,得到随机载荷的统计参数(平均载荷、载荷标准差),并使用载荷的统计参数对实际载荷进行等效处理。通过蒙特卡罗方法计算结构的可靠度,研究一定可靠度下随机载荷的变异系数和分散性安全系数的关系。结果发现,不考虑载荷分散性的影响是偏于危险的。载荷分散性的影响可以分散性系数来衡量,使用分散性安全系数对载荷进行等效处理,最后采用处理后的等效载荷进行结构的安全评定。

静载下含平面缺陷的压力管道的失效率

参照 SAPV-95规范 ,用第 2水平法对静载下含平面缺陷的压力管道进行了可靠性分析 ,得出了功能函数。提出了计算失效率的快速收敛的迭代算法 ,并分析了失效率与广义强度和广义应力的均值及变异系数的关系。

X射线照相对平面缺陷检测能力的研究

本文探讨了X射线照相检测平面缺陷时,其灵敏度与缺陷之间的关系,提出了X射线照相检测平面缺陷的临界宽度的概念.对中薄板而言此临界宽度为0.01毫米.

氨气管道平面缺陷安全评定分析

在对某仓储输送系统的氨气管道检验中发现多处存在平面缺陷(未焊透),采用U因子对缺陷进行安全评定,根据评定结果对该管道采取合理的检验策略,从而避免了过度检验和检验不足的问题。

四光束干涉单次曝光构造含平面缺陷三维周期性微纳结构

本文使用多光束干涉方法构造三维周期性微纳结构.通过多次匀胶与单次曝光结合,在负光刻胶SU8上刻蚀出含平面缺陷的类金刚石结构(fcc-like)光子晶体.扫描电子显微镜(SEM)观测显示,相比无缺陷光子晶体结构,该结构在(111)晶面上存在清晰可见的平面缺陷.通过控制匀胶时的转速,可以精确控制平面缺陷厚度在适合的范围.傅里叶红外反射光谱测试显示完整周期微纳结构在(111)方向上有明显的特征峰,两个特征反射峰中心波长接近1.2μm和2.4μm.含缺陷的结构则在反射光谱特征峰中掺入了明显的凹陷,并且随着平面缺陷的厚度增大,缺陷模从处于2.4μm禁带移至1.2μm禁带处.提取SEM图中的结构参数,用FDTD方法模拟分析,发现模拟结果与实验值基本一致,证明了平面缺陷不但存在,而且面积较大.

平面型缺陷断裂评定的BS 7910标准简介

主要介绍BS 7910标准中的平面缺陷断裂评定方法,共分为三个级别。它对实际的金属结构评定是非常有意义的。

钢轨焊缝平面状缺陷探测研究

简要介绍钢轨焊缝中的缺陷及其探测方法 ,重点研究双探头探伤时平面状缺陷反射幅度与缺陷位置的关系和单探头探测轨脚时声波的传播规律及探头偏角的选择等。

基于ASME和RSE-M规范的含平面缺陷奥氏体不锈钢核级管道剩余寿命预测方法的数值对比研究

核级管道在加工和安装环节可能存在不同的缺陷。此外,由于核电厂运行条件的影响,管道中可能存在少量缺陷,如裂缝。需要合理预测评估含缺陷管道的剩余寿命,以便安排更换方案,避免对核电厂的效率造成严重影响。本文根据ASME和RSE-M规范,在应力强度因子计算、裂纹扩展分析和裂纹稳定性评价等环节,通过数值对比研究了含有平面缺陷的奥氏体不锈钢核级管道的剩余寿命评估方法,为类似工作提供参考。

L-S探头在探测平面状缺陷中的应用

详细介绍L S探头的设计原理 ,给出有关的试验数据及其在钢轨焊缝平面状缺陷探测中的应用情况等。

槽缝型缺陷参考平面对高速信号的影响研究

为研究槽缝型缺陷参考平面对高速信号的影响,主要基于场路混合仿真,使用三维全波方法提取槽缝缺陷参考平面参数,并结合电路仿真,分别对单端微带线与耦合微带线跨越不连续参考平面的影响进行分析,讨论了这些影响是如何作用于高速数字系统的时序与噪声,并引入眼图予以说明。仿真结果表明开槽长度与宽度都会增大信号回路电感,信号上升沿时间会随着返回路径的增加而退化,从而引起高速数字系统时序抖动,耦合微带线间的串扰随返回路径增加而急剧增加,在抖动与噪声的共同作用下,会对系统数据接收到的信号产生破坏性作用,在高速PCB设计中应遵从使返回路径最小的原则,避免共同的信号返回路径是关键。由此总结出降低不完整参考平面高速互连线间耦合及串扰的设计规则。

小径管对接焊缝缺陷验收准则分析

通过对ASME XI卷表IWB-3514-1铁素体管道允许平面缺陷确定方法的分析,明确了管道缺陷验收准则的技术基础和方法、关键因素及适用范围。针对现有的ASME XI表IWB-3514-1验收标准适用范围外的小尺寸管道对接焊缝,给出确定验收准则的分析过程,得到相应的允许缺陷值,同时采用合乎使用原则分析得到特定管道尺寸的允许缺陷,为工程实际应用提供有益参考。

失效评定图中的等可靠性指标线

参照ＳＡＰＶ—９５规范，运用可靠性分析方法，得到了失效评定图中的等可靠性指标线，为迅速估计静载下含平面缺陷的压力管道的安全性奠定了基础。

半导体所在GaAs纳米线结构相变的研究方面取得重要成果

作为传统的Ⅲ-V族半导体,GaAs体材料的稳定相是闪锌矿结构。但是当进入到纳米尺度时,由于表面积相对增加,又由于纤锌矿结构的表面能较低,使得GaAs纳米线上容易出现纤锌矿结构,互相竞争的结果往往是两相共存,还夹着很多平面缺陷(planar defect)。

便携式定量相位显微成像系统设计

为实现无标记样本的定量检测,借助NX12.0搭配相关器件自主设计了一款小型化相位显微镜。相较于市面上售价高昂的相位显微镜,所设计显微镜无需相干器件,且在满足系统分辨率的前提下,将体积缩小了约60%,大幅提高了便携性,同时成本仅需5000元左右。系统中还嵌入了自动对焦算法和基于变换域的视场校正算法,以加快检测速度和相位恢复的准确率。经测试,系统在10倍物镜下的分辨率达到了分辨率板极限2.19μm,同时随机相位板的检测表明相位恢复的准确率也达到了基本需求。除此之外,还对活细胞结构和平面玻璃的缺陷进行了测试。结果表明,所提系统不仅能对活细胞进行较好的定量测量,还可以在透明/半透明平面缺陷的检测中发挥重要作用,更是证明了这种成本低、便携性高、可实现无标记样本定量的系统设计方案的可行性。

Propagation of flexural waves in phononic crystal thin plates with linear defects

The band structures of flexural waves in a phononic crystal thin plate with straight, bending or branching linear defects are theoretically investigated using the supercell technique based on the improved plane wave expansion method. We show the existence of an absolute band gap of the perfect phononic crystal and linear defect modes inside the gap caused by localization of flexural waves at or near the defects. The displacement distributions show that flexural waves can transmit well along the straight linear defect created by removing one row of cylinders from the perfect phononic crystals for almost all the frequencies falling in the band gap, which indicates that this structure can act as a high efficiency waveguide. However, for bending or branching linear defects, there exist both guided and localized modes, and therefore the phononic crystals could be served as waveguides or filters.