近场平面扫描“诊断”技术的探讨

本文首先简要介绍了L-SA及天线的结构以及系统的组成,其次介绍了采用平面近场扫描的方法,对其T/R组件失效“诊断”实验的情况。在分别T/R组件全部正常工作情况下,和已知有几个T/R组件失效情况下,对天线进行了模拟测试。利用近场到天线口面场反演技术,得到了天线的口面场分布,实现了对T/R组件失效情况的“诊断”。其结果与已知情况相符。