组合电路的故障测试生成并行ATPG算法研究

自动测试向量生成(ATPG)是借助计算机或者其他工具根据一定的测试生成算法自动的为被测电路生成测试向量的过程。文章给出了一种位级并行(split-into-W-clones)自动测试向量生成算法,该算法的判决按照位逻辑操作运算进行。通过将该算法与SCOAP可测性测度结合起来,为该算法前后向蕴涵选择最优路径,提高每次回溯成功的概率,达到减少回溯次数、加速测试向量的生成和提高故障覆盖率的目的。通过实验看出改进后的算法具有良好的性能。

基于边界扫描技术互连网络自动测试方法研究

随着VLSI电路的广泛使用,复杂PCB板上的开路、桥接和固定逻辑故障的比例逐渐上升,可测试性明显下降。边界扫描互连网络测试技术是检测PCB板固定故障的一种有效方法。通过建立互连网络故障的模型,分析了互连网络测试的原理,提出互连网络自动测试实现方法。实验表明,该方法可以有效地实现互连网络故障的测试,对边界扫描技术的应用具有一定的参考价值。