并行测试技术在自动测试系统中的应用

并行测试拥有减少测试时间、降低测试成本的强大优势,正成为研究热点之一。首先详细分析了并行测试的基本概念,介绍了目前实现并行测试可以采用的两大类4种结构,对这4种结构各自的优缺点进行了比较。接着以多线程并行测试程序为例描述了并行测试程序中同步、异步和单线程的三种模型,最后重点对多线程并行测试实现中几个值得注意的重要问题进行了讨论。

共享IEEE488的并行测试技术

测试电子产品,诸如蜂窝电话,日益复杂化,通常需要较长的测试时间以及多功能的测试装置。类似地,这些生产厂商不断地承受压力来缩短设计周期、减少生产时间、降低产品成本。测试工程师同样感到巨大压力,这种压力与其它部门工程师相比有过之而无不及。因此,他们不断地在探索降低测试成本的新途径,例如减少每个单元的测试时间,降低设备费用等。有一种方案可以降低成本符合产品进入市场的时间要求,这就是总线共享技术,在单一的系统上同时测试几个产品,这样让你更有效地使用计算机和测试装置。有了当代的计算机和操作系统。

导弹通用测试平台的并行测试改造研究

介绍了导弹通用测试平台的研究背景和现状,分析了该平台面向战时保障时存在的问题,提出应用并行测试技术对现有系统进行改造,给出了改造指导原则,说明了并行测试需求分析过程,引入了专用资源架构和软件总线,采用并行机械平台和A i710模块作为并行改造的硬件基础,开发了基于T estS tandTM和COM的并行测试软件.

CMC芯片架构及并行测试方法

CMC芯片是面向工业控制领域开关量控制、模拟量控制、运动控制、信息采集、工业无线、低功耗和分布控制几个方面的片上控制系统,本文介绍CMC芯片的总体软硬件架构,并给出CMC芯片并行测试技术和方法。