应力差分反射对GaAs体材料的应用

应力差分反射术是一种调制光谱技术． 它的测量机理是对半导体材料施加一非均匀的应力，使材料的介电函数发生改变，从而产生与材料的光学跃迁相联系的 Ｄ Ｒ 信号，实现调制的目的． 实验结果表明。