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电子设备组件环境应力筛选分析──潜在缺陷、故障模式和失效机理
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作者 章黎明 叶迪镇 《电子产品可靠性与环境试验》 1997年第6期28-31,共4页
本文描述电子设备组件可能引入的潜在缺陷、采取高效环境应力筛选方法诱发出的故障模式和失效机理并略述组件筛选的效果。
关键词 电子组件 环境应力筛选 应力筛选分析
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