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基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪的设计
被引量:
3
1
作者
王辉
周志权
赵占锋
《电子技术应用》
北大核心
2010年第9期115-118,共4页
实现了一种基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪,并能达到要求的10-3≤p≤10-10检测灵敏度。伪随机码生成器用于生成由ITU推荐的用于误码测试的伪随机序列。误码测试仪可以进行开环测试,拥有五种测试码型可以选择,而且实现了盲检测。...
实现了一种基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪,并能达到要求的10-3≤p≤10-10检测灵敏度。伪随机码生成器用于生成由ITU推荐的用于误码测试的伪随机序列。误码测试仪可以进行开环测试,拥有五种测试码型可以选择,而且实现了盲检测。测试的方法灵活,可测试的设备广泛,扩展性较好。
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关键词
误码测试
DSP
FPGA
开关门算法
盲检测
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题名
基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪的设计
被引量:
3
1
作者
王辉
周志权
赵占锋
机构
哈尔滨工业大学(威海)
出处
《电子技术应用》
北大核心
2010年第9期115-118,共4页
文摘
实现了一种基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪,并能达到要求的10-3≤p≤10-10检测灵敏度。伪随机码生成器用于生成由ITU推荐的用于误码测试的伪随机序列。误码测试仪可以进行开环测试,拥有五种测试码型可以选择,而且实现了盲检测。测试的方法灵活,可测试的设备广泛,扩展性较好。
关键词
误码测试
DSP
FPGA
开关门算法
盲检测
Keywords
BER testing
DSP
FPGA
switching doors algorithm
blind detection
分类号
TN911.25 [电子电信—通信与信息系统]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪的设计
王辉
周志权
赵占锋
《电子技术应用》
北大核心
2010
3
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