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基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪的设计 被引量:3
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作者 王辉 周志权 赵占锋 《电子技术应用》 北大核心 2010年第9期115-118,共4页
实现了一种基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪,并能达到要求的10-3≤p≤10-10检测灵敏度。伪随机码生成器用于生成由ITU推荐的用于误码测试的伪随机序列。误码测试仪可以进行开环测试,拥有五种测试码型可以选择,而且实现了盲检测。... 实现了一种基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪,并能达到要求的10-3≤p≤10-10检测灵敏度。伪随机码生成器用于生成由ITU推荐的用于误码测试的伪随机序列。误码测试仪可以进行开环测试,拥有五种测试码型可以选择,而且实现了盲检测。测试的方法灵活,可测试的设备广泛,扩展性较好。 展开更多
关键词 误码测试 DSP FPGA 开关门算法 盲检测
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