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一种应用于折叠/插值型ADC的高速宽带采样保持电路
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作者 钟科 张正平 《电子产品世界》 2022年第5期63-66,共4页
本文提出了一种基于0.18μm BiCMOS工艺设计的开环采样保持电路,采用了增益和失调误差数字校准算法提升动态性能,应用于高速折叠/插值型ADC中。电路仿真和测试结果表明,在2GSPS采样率下,折叠/插值型ADC的DNL≤±0.3LSB、INL≤±... 本文提出了一种基于0.18μm BiCMOS工艺设计的开环采样保持电路,采用了增益和失调误差数字校准算法提升动态性能,应用于高速折叠/插值型ADC中。电路仿真和测试结果表明,在2GSPS采样率下,折叠/插值型ADC的DNL≤±0.3LSB、INL≤±0.3LSB,有效位达到7.32位。 展开更多
关键词 开环采样保持电路 数字校准 折叠插值
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