根管显微镜在发现离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管中的作用

目的:比较肉眼和应用根管显微镜条件下,离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管(MB2)的发现率,为推广根管显微镜的临床应用提供依据。方法:离体上颌第一磨牙共105个,分别肉眼下使用传统开髓口、改良开髓口,根管显微镜下探查寻找MB2,记录MB2发现率。结果:传统开髓口、改良开髓口和根管显微镜条件下,MB2的发现率分别为45.71%,54.29%,82.86%,肉眼下传统开髓口和改良开髓口MB2的发现率与应用根管显微镜时MB2的发现率存在显著差异(P<0.05)。结论:应用根管显微镜可以极大地提高MB2的发现率。

根管显微镜在定位上颌磨牙近颊根第二根管中的作用

目的:评价改进开髓口和应用根管显微镜(DOM)定位离体上颌第一、二磨牙近颊根第二根管(MB2)的能力。方法:收集离体上颌第一、二磨牙共550颗。在肉眼、传统三角形开髓口(N.E-1),肉眼、改进开髓口(N.E-2)和根管显微镜辅助(DOM)三种不同条件下分别探查根管,记录MB2数目。结果:N.E-1、N.E-2和DOM三种不同条件下,MB2发现率在上颌第一磨牙分别为34.26%、51.85%和78.24%;第二磨牙分别为16.17%、23.65%和41.32%。改进开髓口和使用DOM可显著提高MB2发现率,与传统开髓口间的差别有统计学意义,P<0.05。结论:建议将上颌磨牙开髓口由传统的三角形改为斜四边形,并使用合适的放大技术和增强照明,以提高MB2发现率和治疗率。

根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的发现率比较

目的:比较根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管(MB2)的发现率与实际发生率的差异,为推广根管显微镜的临床应用提供依据。方法:离体上颌第一磨牙90个,分为两组,A组45个牙,采用改良开髓口,根管显微镜下探查寻找MB2并记录其发现率;B组45个牙,制成透明标本,观察近颊根的解剖形态,记录MB2的发生率,并与根管显微镜下MB2发现率相比较。结果:根管显微镜下A组MB2的发现率82.22%,透明牙标本B组显示的MB2发生率86.66%,二者之间不存在显著差异(P>0.05)。结论:使用根管显微镜,MB2的发现率接近于其实际发生率。