基于V93000的异步双端口静态存储器测试研究

随着计算机应用领域的不断发展,处理的信息量越来越多,对存储器的工作速度和容量要求也越来越高,异步双端口静态存储器在高速多处理系统中广泛应用。因此,研究异步双端口静态存储器测试具有十分重要意义。该文以IDT公司的IDT70V631S高速256K*18异步双端口静态存储器器件为例,介绍了异步双端口静态存储器的基本工作原理,阐述了基于V93000测试系统的MTP软件生成测试向量的方法,从而更高效、简便地对异步双端口静态存储器进行评价。

基于自校正的大时延模拟源高精度实现技术

针对基于异步双存储技术的大时延模拟源精度难以提升的问题,提出了一种实时校正方法。自校正充分利用异步双存储的粗细两级存储延时模式,在细延时阶段完成时延闭环测量,在粗延时阶段完成时延修正。自校正通过模拟源系统内部闲余的数字资源实现,以低消耗、低成本,同时不影响模拟源正常工作,实现了高精度时延模拟。深入研究了异步双存储延时技术,提出了自校正原理,介绍了自校正的具体实现方法,通过比对实验验证了自校正技术对于精度的提升切实可行。