期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
集成电路高层故障模型评估方法
1
作者 杨修涛 鲁巍 李晓维 《计算机工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第4期228-229,232,共3页
给出了利用测试向量进行评估的基本理论方法,以及强对应集和弱对应集的定义及推论。按该方法,依不同模型生成测试向量,然后进行相互间的覆盖计算,以比较模型的优劣。最后对ITC99-benchmark电路进行实验,结果表明该方法是有效的。
关键词 模型评估 对应 弱对应集
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部