基于贮存剖面的弹上电子部件可靠性分析

目的提高弹上电子部件贮存可靠性预测的准确度,提出基于贮存剖面的弹上电子部件可靠性分析方法。方法在分析弹上电子部件贮存剖面及环境条件的基础上,将弹上电子部件视为多阶段任务系统,引入贝叶斯分析,采用分阶段建模方法,针对各阶段相关性和失效率的不同,基于累积损伤模型,构建弹上电子部件贮存寿命周期内的可靠性模型。结果相比于洞库贮存、值班等单一环境条件下的可靠性预测,基于贮存剖面综合环境下的可靠性预测结果的准确性更高,且随着贮存时间的增长,优势更明显。结论该方法立足于实际贮存剖面,分析结果更符合弹上电子部件的应用实际,也为其他弹上部件的可靠性分析提供了一种有效途径。