气溶胶样品氢含量的质子弹性散射分析

利用单个标准样品比较法质子弹性散射分析（PESA）对一组采集在核孔膜上的气溶胶样品的氢含量进行定量分析。在质子束能量为2．5MeV、散射角为40°时，PESA测量10μm厚核孔膜上气溶胶中H含量的探测限为0．36μg／cm^2。几个样品H含量的测量结果在3．2～37．5μg／cm^2之间，显著高于探测限。质子能量在1．0～2．5MeV范围内，3．5／μm Mylar膜的束流归一化H峰面积随入射质子能量的变化在±3％以内。所以，不同厚度的气溶胶样品可采用同一个标准样品来进行PESA测量。

质子弹性散射分析方法测量mylar膜上气溶胶样品的氢含量

利用标准样品比较法质子弹性散射分析（PESA）对一组采集在mylar膜上的气溶胶样品氢含量进行了定量分析.在质子束能量2.5 MeV,散射角50°时,PESA测量5μm mylar膜上气溶胶中氢含量的探测限为0.26μg·cm^-2,几个样品氢含量的测量结果在1.9～12.7μg·cm^-2之间,大大高于探测限.

前向反冲分析和非卢瑟福背散射

介绍了弹性散射分析中的另外两种分析方法———前向反冲分析和非卢瑟福背散射分析。前向反冲分析适用于材料中H和He同位素分析。高能质子和He离子背散射分析可提高对重基体中C ,N和O等轻元素分析的灵敏度。

北师大串列加速器在气溶胶离子束分析上的新进展

气溶胶样品中Z>12元素含量的质子X射线荧光分析是北师大GIC4117串列加速器的主要应用领域之一。为弥补该方法不能分析H、C、N和O等轻元素之不足,我们通过在PIXE靶室40°和160°散射角安装金硅面垒探测器,用质子前角弹性散射分析和非卢瑟福背散射方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行了测量。

PESA测量中单个标准样品刻度方法适用范围研究

用3．5μm厚Mylar膜作为标准样品，对1．4～2．5MeV范围不同能量下PESA测量刻度系数进行测量。结果在此能量范围内不同能量下平均刻度系数差别小于10％。用2．5MeV质子束，对单层，双层和三层3．5μn厚Mvlar分别进行PESA测量，它们平均刻度系数相差在3％以内。结果表明：对厚度小于9mg／cm^2气溶胶样品或2．5MeV质子穿透过程中能量损失小于1．1MeV其他样品，2．5MeVPESA测量是可以用单标准样品进行刻度。