期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
通用微处理器等效老化试验方法
1
作者 焦慧芳 温平平 +2 位作者 贾新章 王群勇 罗雯 《电路与系统学报》 CSCD 北大核心 2005年第4期51-55,共5页
针对不同工艺、不同设计的功能全兼容集成电路等效老化的需要,提取出了集成电路等效老化的特征参数—“归一化老化电流”指标α,并讨论了等效老化信号的确定方法。结合集成电路等效老化信号确定方法,以CPU486为研究对象,给出通用CPU等... 针对不同工艺、不同设计的功能全兼容集成电路等效老化的需要,提取出了集成电路等效老化的特征参数—“归一化老化电流”指标α,并讨论了等效老化信号的确定方法。结合集成电路等效老化信号确定方法,以CPU486为研究对象,给出通用CPU等效老化试验方案,为评估和比较不同CPU的质量和可靠性提供了统一的试验平台。 展开更多
关键词 微处理器(CPU) 等效老化 归-化老化电流 信号频率
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部