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区熔气相掺杂硅单晶径向电阻率均匀性的研究
1
作者
徐强
张雪囡
+3 位作者
孙晨光
王岩
王彦君
高树良
《中文科技期刊数据库(全文版)工程技术》
2016年第9期281-281,共1页
本文通过试验研究了下轴转速、正反转时间比、偏心度三个方面因素对于区熔气相掺杂硅单晶径向电阻率均匀性的影响。试验结果表明:随着下轴转速的不断增加,单晶径向电阻率分布偏差呈先降低后升高的趋势;正反转时间比增加,单晶径向电阻率...
本文通过试验研究了下轴转速、正反转时间比、偏心度三个方面因素对于区熔气相掺杂硅单晶径向电阻率均匀性的影响。试验结果表明:随着下轴转速的不断增加,单晶径向电阻率分布偏差呈先降低后升高的趋势;正反转时间比增加,单晶径向电阻率分布得到明显改善,正反转角度进一步增加,径向电阻率分布偏差又有升高的趋势;随偏心度增加,单晶边缘与中心点电阻率趋于一致,单晶径向电阻率不均匀性明显减小。
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关键词
区熔
气相掺杂
电阻率
均匀
性
硅单晶
径向电阻率不均匀性
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职称材料
题名
区熔气相掺杂硅单晶径向电阻率均匀性的研究
1
作者
徐强
张雪囡
孙晨光
王岩
王彦君
高树良
机构
天津市环欧半导体材料技术有限公司
出处
《中文科技期刊数据库(全文版)工程技术》
2016年第9期281-281,共1页
文摘
本文通过试验研究了下轴转速、正反转时间比、偏心度三个方面因素对于区熔气相掺杂硅单晶径向电阻率均匀性的影响。试验结果表明:随着下轴转速的不断增加,单晶径向电阻率分布偏差呈先降低后升高的趋势;正反转时间比增加,单晶径向电阻率分布得到明显改善,正反转角度进一步增加,径向电阻率分布偏差又有升高的趋势;随偏心度增加,单晶边缘与中心点电阻率趋于一致,单晶径向电阻率不均匀性明显减小。
关键词
区熔
气相掺杂
电阻率
均匀
性
硅单晶
径向电阻率不均匀性
分类号
TN304 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
区熔气相掺杂硅单晶径向电阻率均匀性的研究
徐强
张雪囡
孙晨光
王岩
王彦君
高树良
《中文科技期刊数据库(全文版)工程技术》
2016
0
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职称材料
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