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利用微放电现象预测真空触头材料的耐电压性能 被引量:2
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作者 程礼椿 《高压电器》 CAS CSCD 北大核心 1996年第5期28-32,共5页
介绍利用微放电现象预测真空触头材料的耐电压性能的技术。在阐明真空间隙击穿和微放电机理的基础上,引用国外最近的研究结果对预测的可能性给于证明,最后对它的应用问题作了讨论。
关键词 微放电系统 真空触头材料 耐电压
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