微束微区X荧光矿物探针分析仪的研制

一种新的矿物微区成分分析技术与矿物探针分析仪主要针对显晶或隐晶矿物的成分分析。该分析仪是以能量色散X射线荧光分析原理为物理基础,采用X光管和X聚焦透镜组成微束X射线激发源、以电致冷Si-PIN半导体探测器为X射线探测器和数字X射线谱采集器组成能量色散射线X荧光分析系统;采用40倍光学放大和CCD相机相合实现微区的显微放大,通过程控三轴微控台实现微区的定位。该探针分析仪能够实现对样品表面Φ35μm范围内多元素定性与定量分析,快速鉴定矿石的物质成分,精确度好于10%(RSD)。测定对象可以是天然岩石、矿石及其光片、薄片样品等;可应用于野外条件下的现场和驻地的岩矿石矿物的微区快速成分分析。

微束微区X荧光探针分析仪在矿石微粒分析中的应用

描述了一种微束微区X荧光探针分析仪,它采用会聚X光透镜来聚焦入射X射线,可对样品内微小面积的元素及其含量进行分析。以铁矿石内颗粒的测量为例,表明了微束微区X荧光探针分析仪是区分矿石中微小颗粒的有力工具,在细微材料成分分析和无损检测中具有广阔的前景。

微束微区X荧光探针仪的机械系统设计

随着核技术的发展,工业用核仪器已渗透到国民经济的各个领域并取得了显著的经济效益。而核仪器越来越高的测量精度和性能要求同时也对其机械传动及支撑系统提出了更特殊的需求。首次对微束微区X荧光探针的机械系统及其关键技术进行分析,从仪器的高空间分辨率和高能量分辨率的要求出发,详细讨论仪器的三维载物微动平台和X光管系统的支撑及传动系统的机械设计。对X光透镜焦斑的测试实验结果证明了该机械系统的设计达到了仪器性能指标要求。

测定微束微区X射线探针分析仪焦平面的实验研究

微束微区X射线探针分析仪借助会聚X光透镜把X射线聚焦。针对仪器调试过程中需确定出口焦平面位置的难题,采用拟合曲线荧光分析方法方便快速地确定出口焦平面的位置。方法是用直径小于X焦斑直径的金属丝在不同测量平面上进行微动测量,因X光强度沿径向呈高斯分布,所以金属丝中元素荧光强度随位移也呈高斯分布。通过计算得出不同测量平面上同种元素的荧光强度半高宽,再拟合出平面位置与半高宽的曲线函数。从函数式中计算得到最小半高宽对应的平面位置值,从而确定出焦平面位置。

微束微区X荧光探针分析仪的矿物定量分析

介绍了微束微区X荧光探针分析仪的工作原理,该探针分析仪能够对样品表面约50Lm范围内进行多元素定性与定量分析。在定量分析中,建立线性校准方程,采国家标准样品对微束微区X荧光该探针分析仪进行校准曲线的系数标定。以Fe、As和Ti元素所制定的校准曲线为例,定量分析出的元素含量与标准含量相对误差低于9.62%。结果显示微束微区X荧光探针分析仪具有较高的能量的分辨率,可以快速鉴定矿石的物质成分。定量分析结果的准确度低于地质样品分析的误差标准。表明该探针分析仪可以应用于野外条件下矿石微区成分的定性与定量分析。

建立和应用微束微区X荧光探针特征库的研究

利用能量色散X荧光探针分析仪,在常温常压环境下激发毒砂和黄铜矿物的特征X射线,采集所形成矿物标本的微区特征X荧光谱线。将岩石矿物标本的显微照片、特征X荧光谱线、主量元素的含量与含量比值作为特定矿物的识别信息,建立了毒砂、黄铜矿等矿物识别的特征信息库。利用所建立的特征信息库对广西大厂地区的未知岩石矿物进行了快速识别。结果表明,建立的实验平台和常见岩石矿物特征信息库,可有效减少矿石鉴定花费高、速度慢的缺陷,弥补其受人为因素影响大等的缺点,实现了原位鉴定。可望为矿产勘查、开发和选矿提供技术支持。

野外微区X荧光矿物探针分析结果A类不确定度的研究

微区X荧光矿物探针可以客观对矿物进行快速显微定量分析,是地质勘探,环境调查和材料分析领域中一种重要的显微分析仪器。本文简述了微束微区X荧光矿物探针分析仪的结构和组成,选用贝塞尔法和极差法,对微区荧光探针分析仪的A类不确定度评定进行比较。当测量次数少于7次时,使用极差法进行A类不确定度的评定效果更佳。从而完善微束微区X荧光探针分析仪的不确定度的评定。