用微波多端口技术测量粉末状材料复电磁参数

介绍了测量双端口网络散射参数的微波多端口技术,提出了测量粉末状物质复电磁参数的级联网络分解法,并指出了与测试方法相关的端面相位修正措施。给出了四种典型粉末状物质的测试结果。

一种新的基于PRM的多端口微波器件测量方法

端口还原法(PRM)是一种通过多组端口接负载的n-1端口的散射矩阵获得n端口散射矩阵的方法。通过这种方法可以减少对测试仪器的校准过程。当n端口的微波器件通过端口接相应的负载降低为两端口微波网络时,两端口的散射矩阵可以通过传统的两端口矢量网络分析仪测量获得。但是传统的PRM方法需要三种相应的端口负载,本文提出的新型PRM测量方法只需要两种相应的端口负载,使PRM算法更加简化。仿真结果显示该PRM算法具有良好的精度。此外,该算法比使用理想负载的两端口网络分析仪测量结果更准确。

一种测量天线罩微波电厚度的简便方法

提出了一种天线罩电厚度检测的新方法-微波反射式电厚度测量,给出了该方法的基本原理以及相应的测量系统。与通常天线罩壁电厚度的双探头插入相移测量方法相比,采用单探头测量天线罩壁复反射系数,通过复反射系数相位的变化了解天线罩壁电厚度的相对变化,大大简化了设备,降低了测量时对探头机械定位精度的要求,使测量过程简单易行。由于采用单探头,该方法还可测量双探头无法测量的复杂天线罩顶部位。

用于天线罩电厚度测量的小型微带六端口反射计

六端口反射计广泛用于高精度反射系数测量,若采用小型测量网络作为测量探头,它可用于天线罩电厚度的无损检测,本设计为一个用于此目的的六端口反射计,该反射计主要由微带对称五端口双环网络与多分支线微带定向耦合器组成,借助于M icrowave O ffice软件对这两部分进行优化与仿真设计,实际电路测试结果表明,此微带六端口反射计在较宽的频带内具有高的测量精度,且由于体积小,可方便地用于天线罩电厚度测量。

矩形波导模式谱图的一般表达式

结合微波多端口技术与材料测试技术研究过程中遇到的高次模问题,作了初步的分析与实验研究,讨论了矩形波导模式谱图的一般表达式,并提出了一些看法供学界讨论。

纳米金属薄膜材料电磁参数测量方法

提出了一种基于波导法的纳米薄膜材料电磁参数测量的新方法,给出了该方法的基本原理。与常规波导测量方法相比,该方法根据纳米金属薄膜材料的特点,简化了求解算法,只需测出加载薄膜波导开路与短路时的复反射系数,即可求出薄膜的介电常数与导磁率,使测量过程简单高效并具有较高的精度。

一种结构新颖的微带前向耦合器设计及其应用

定向耦合器在微波系统中应用广泛,而关于前向耦合器的研究甚少.介绍了一种中心频点在2.45GHz的微带线前向耦合器设计方法.该方法通过引入两条耦合平行线和不对称延迟线,既提高了耦合平坦度和隔离度,也避免了传统设计中因渐变线的引入而导致结构尺寸变大的缺陷.同时,基于该前向耦合器设计加工了一种探测流动溶液微弱介电特性改变的多端口射频电路,实验结果证明了该耦合器的可靠性.