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晶圆级微波测试工艺研究 被引量:4
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作者 吕磊 胡晓霞 郑如意 《电子工业专用设备》 2021年第2期46-51,共6页
从微波信号特性和微波器件晶圆级测试工艺要求出发,介绍了微波探针台的主要结构设计,并以某器件测试工艺为例,分别进行测试系统搭建、程序编写、数据读取与分析等描述,同时对该设备的特殊需求及后续发展方向进行展望。
关键词 微波探针台 晶圆级测试 电磁屏蔽
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