用Q3236实现的微波数字锁相环

本文根据现今一部分设备中普遍存在的高次倍频链调试困难，生产一致性差的缺点，提出了一种用微波数字锁相环取而代之的技术方案，并将之用于一地面测试设备的改进设计中，对环路进行了分析及说明，详细论证了试验结果。