聚酰亚胺侵蚀机理及防护效应的研究

在微波电离型原子氧 (AO)源地面模拟设备中对空间材料聚酰亚胺 (Kapton)及有机硅防护层进行原子氧剥蚀效应试验 .用光电子能谱 (XPS)、红外光谱 (FTIR)和扫描电镜 (SEM)对试验前后试样的表面形貌、质量及化学结构进行表征研究 .AO对 Kapton表现了较严重的侵蚀作用 ,原来平整的表面形貌变为毛毯状 ;而所施用的有机硅涂层的表面形貌则变化甚少 ,表明该涂层具有较明显的防护效果 .