基于微波透射法的瓷质绝缘子XWP-70劣化检测

为了对瓷质绝缘子进行非接触式快速无损检测,提出一种基于微波透射法的绝缘子劣化检测方法。该方法根据介质中均匀平面波传输理论,对微波在绝缘子内部及交界面的传播过程进行分析。通过将绝缘子复杂结构简化成均匀介质层,建立了微波在绝缘子内部及交界面传输过程的数学模型。利用矢量网络分析仪和毫米波天线搭建了微波检测平台,对从现场取回的绝缘子样本进行对比实验。所实测的散射参量S21幅值差异的最大值达到16 d B以上,灵敏度较高,初步证明了微波透射方法应用于瓷质绝缘子劣化检测的可行性。