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ZC36微电流测试仪测量非晶硅有效隙态密度
1
作者 唐元洪 《湖南大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 1997年第3期17-20,共4页
首次报告了用国产的廉价的ＺＣ３６型微电流测试仪测量非晶硅有效隙态密度的原理和结果，其结果与美国生产的昂贵的４０６１Ａ型半导体综合测试仪测量结果相一致。
关键词 非晶硅 隙态密度 半导体 微电流测试仪
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用微电流测试仪测绝缘材料浸水电阻的实验研究
2
作者 高艳文 金蓉爱 +1 位作者 石忠伟 李子帙 《大学物理实验》 2001年第3期6-8,共3页
本文介绍了用微电流测试仪测绝缘材料浸水电阻的条件和方法
关键词 微电流测试仪 浸水电阻 绝缘材料
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