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Mirau干涉型微纳台阶高度测量系统的研究
被引量:
8
1
作者
郭鑫
施玉书
+4 位作者
皮磊
张树
李适
李东升
高思田
《计量学报》
CSCD
北大核心
2017年第2期141-144,共4页
为了实现纳米量级到微米量级的微观三维台阶样板高度的快速测量,在普通光学显微镜的基础上改造完成了一台微纳台阶高度测量装置,设计了整体硬件结构,编写了测量控制软件和数据处理软件,并结合Hilbert变换和小波变换实现三维表面形貌测...
为了实现纳米量级到微米量级的微观三维台阶样板高度的快速测量,在普通光学显微镜的基础上改造完成了一台微纳台阶高度测量装置,设计了整体硬件结构,编写了测量控制软件和数据处理软件,并结合Hilbert变换和小波变换实现三维表面形貌测量。使用不同高度的台阶样品进行测试,测试结果表明:系统测量准确度较高,测量重复性较好,垂直测量范围大于50 μm。
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关键词
计量学
Mirau干涉
微纳台阶高度测量
三维表面形貌
测量
白光显
微
干涉
光学显
微
镜
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职称材料
题名
Mirau干涉型微纳台阶高度测量系统的研究
被引量:
8
1
作者
郭鑫
施玉书
皮磊
张树
李适
李东升
高思田
机构
中国计量大学计量测试工程学院
中国计量科学研究院
天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
出处
《计量学报》
CSCD
北大核心
2017年第2期141-144,共4页
基金
国家重点研发计划(2016YFF0200602)
中国计量科学研究院基本科研业务费(AKY1605)
文摘
为了实现纳米量级到微米量级的微观三维台阶样板高度的快速测量,在普通光学显微镜的基础上改造完成了一台微纳台阶高度测量装置,设计了整体硬件结构,编写了测量控制软件和数据处理软件,并结合Hilbert变换和小波变换实现三维表面形貌测量。使用不同高度的台阶样品进行测试,测试结果表明:系统测量准确度较高,测量重复性较好,垂直测量范围大于50 μm。
关键词
计量学
Mirau干涉
微纳台阶高度测量
三维表面形貌
测量
白光显
微
干涉
光学显
微
镜
Keywords
metrology
Mirau interference
micro/nano step height measurement
3D surface topography measurement
white light microscope interference
optical microscope
分类号
TB92 [机械工程—测试计量技术及仪器]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Mirau干涉型微纳台阶高度测量系统的研究
郭鑫
施玉书
皮磊
张树
李适
李东升
高思田
《计量学报》
CSCD
北大核心
2017
8
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职称材料
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