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题名蓝宝石衬底表面微观缺陷检测与深度估计
被引量:1
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作者
崔长彩
杨成
李子清
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机构
华侨大学制造工程研究院
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出处
《华侨大学学报(自然科学版)》
CAS
2021年第5期561-570,共10页
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基金
国家自然科学基金资助项目(51575197)
福建省科技计划项目(2018I0012)。
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文摘
文中将线阵相机扫描技术与垂直扫描白光干涉技术相结合,对蓝宝石衬底表面的微缺陷进行定位和深度评估.首先,利用线阵相机测量设备进行全场扫描,获得全场图像;然后,通过提取质心坐标来检测微缺陷的位置坐标;最后,在白光干涉测量系统中重建微缺陷的三维形貌,识别缺陷类型,提取缺陷深度信息.结果表明:线阵相机测量系统扫描直径为10.16 cm的蓝宝石衬底表面只需10 s左右,而白光干涉测量系统检测一个微缺陷大约需要76 s,检测到的最深缺陷深度为7.09μm,共发现13个缺陷(10个凹坑和3个裂纹或划痕)并定位在蓝宝石衬底表面.实验结果表明:该方法能准确定位蓝宝石衬底表面的微缺陷并提取其深度.
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关键词
蓝宝石衬底
微观缺陷定位
深度估计
线阵相机
白光干涉技术
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Keywords
sapphire substrate
microdefect localization
depth estimation
linear-array camera
white-light interferometry
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分类号
TN305
[电子电信—物理电子学]
TH74
[机械工程—光学工程]
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