微通道板式WSZ位敏阳极探测器的图像拖尾处理

分析了极紫外成像仪图像拖尾的原因,提出了消除该现象的方法。分析了坐标计算公式中各个分量变化对图像的影响,结果显示:信号叠加和微通道板(MCP)反馈是系统对坐标分量影响最大的两种因素。通过对图像数据的分析,排除了信号叠加的两种情况即峰堆积和尾堆积产生拖尾的可能性。对拖尾最严重处电荷变化量的计算表明,MCP反馈是产生拖尾的主要原因,而MCP所加高压的幅度是产生反馈的重要因素之一。最后,用在2 950 V和2 800 V高压下采集的图像验证了拖尾是由MCP反馈引发的,并通过实验给出了解决方案:通过烘烤减少MCP通道内的气体残留并定期对MCP进行电子束清刷来降低反馈发生的几率,减小拖尾的影响。

非溶剂组分对有机载膜及防离子反馈MCP性能的影响

有机载膜作为制备Al_(2)O_(3)防离子反馈膜的临时衬底,其膜层致密性及厚度显著影响Al_(2)O_(3)膜的致密性、电子透过性和防离子反馈微通道板(microchannel plate,MCP)的电特性。将非溶剂组分由超纯水改为NaCl溶液,通过金相显微镜及台阶仪分析不同NaCl溶液质量浓度所制有机载膜的膜层致密性及厚度;并测量相应有机载膜应用所制Al_(2)O_(3)膜的致密性、电子透过性及防离子反馈MCP的电特性。研究发现,NaCl溶液的质量浓度为0.05 g·ml^(-1)时,有机载膜具备高致密性;且制备的Al_(2)O_(3)防离子反馈膜致密,MCP的增益损失量较小,是最佳的非溶剂组分质量浓度。