单元感知测试的优化方案

越来越多的半导体公司采用新型故障模型——单元感知测试(Cell Aware Test,CAT)来提高库单元内部覆盖率和低缺陷率,但CAT在自动测试向量生成(Auto Test Pattern Generation,ATPG)过程中使用的测试向量数量多,运行时间长,显著地增加测试成本。为了优化CAT,在ATPG流程中加入了总临界区域(Total Critical Area,TCA)和合并时钟域命名捕获过程(Named Capture Procedure,NCP)方法。TCA根据故障类型和最有可能出现故障的位置进行排序,合并时钟域NCP方法为被测知识产权(Intellectual Property,IP)管理时钟域、控制时钟、定义捕获方案。结果表明,结合TCA和合并时钟域NCP方法的CAT达到了提高覆盖率、降低测试向量数量、减少运行时间的优化目标。与以往的CAT优化研究相比,结合了TCA和合并时钟域NCP的CAT优化流程在优化覆盖率和测试向量方面达到了更好的效果。