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裂隙灯显微镜校准方法的研究
被引量:
1
1
作者
丁斌
张成
《计量与测试技术》
2020年第5期86-89,共4页
本文介绍了基于放大率和分辨率测定校准裂隙灯显微镜的方法,在对总放大率误差、左右放大率相对误差校准的基础上,对影响裂隙灯显微镜成像质量的分辨率和裂隙像尺寸进行校准,建立了可溯源到国家长度基准的裂隙灯显微镜的校准装置,分析了...
本文介绍了基于放大率和分辨率测定校准裂隙灯显微镜的方法,在对总放大率误差、左右放大率相对误差校准的基础上,对影响裂隙灯显微镜成像质量的分辨率和裂隙像尺寸进行校准,建立了可溯源到国家长度基准的裂隙灯显微镜的校准装置,分析了上级定标和自身装置的不确定度来源。该装置的测量结果的相对扩展不确定度为1. 7%,基本满足目前裂隙灯显微镜的校准要求。
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关键词
裂隙灯显微镜
总放大率测定仪
光学分辨率板
不确定度
计量
下载PDF
职称材料
题名
裂隙灯显微镜校准方法的研究
被引量:
1
1
作者
丁斌
张成
机构
南通市计量检定测试所
出处
《计量与测试技术》
2020年第5期86-89,共4页
文摘
本文介绍了基于放大率和分辨率测定校准裂隙灯显微镜的方法,在对总放大率误差、左右放大率相对误差校准的基础上,对影响裂隙灯显微镜成像质量的分辨率和裂隙像尺寸进行校准,建立了可溯源到国家长度基准的裂隙灯显微镜的校准装置,分析了上级定标和自身装置的不确定度来源。该装置的测量结果的相对扩展不确定度为1. 7%,基本满足目前裂隙灯显微镜的校准要求。
关键词
裂隙灯显微镜
总放大率测定仪
光学分辨率板
不确定度
计量
Keywords
slit-lamp microscopes
total magnification measuring device
optical resolution plate
uncertainty
metrology
分类号
TG115 [金属学及工艺—物理冶金]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
裂隙灯显微镜校准方法的研究
丁斌
张成
《计量与测试技术》
2020
1
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