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题名一种恒电长度干涉仪分析的新方法
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作者
陈俊华
黄柳桃
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机构
中国电子科技集团公司第
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出处
《航天电子对抗》
2007年第4期44-46,共3页
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文摘
对数周期天线的相位中心随频率呈线性变化,用2个对数周期天线可以构成具有恒电特性的干涉仪天线阵,在工程应用中,天线相位中心较大的测试误差会导致天线阵调试困难。通过对恒电长度干涉仪的分析,提出了利用相位扫频测试对天线阵进行调试分析的方法,避免了繁杂的相位中心测试,简化了天线阵的调试过程,测试数据可直接用于系统校正。
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关键词
恒电长度干涉仪
对数周期天线
相位扫频测试
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Keywords
invariant electrical length interferometer
log-periodic antenna
phase frequency sweep test
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分类号
TH744.3
[机械工程—光学工程]
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题名恒电长度单基线相干测向系统
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作者
徐锡坤
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机构
南京九二四厂
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出处
《舰船电子对抗》
1994年第6期13-16,共4页
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文摘
叙述了恒电长度单基线相干测向的基本原理、系统组成和系统的测向误差,并指出了这种测向方法具有恒单值视角的特点。它是小型设备中获取高测向精度的方案之一,同时也是替代比幅测向的好方法。
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关键词
电子对抗
测向
单基线
恒电长度
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分类号
TN820
[电子电信—信息与通信工程]
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