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确定性有限状态机的最小测试成本迁移覆盖准则 被引量:5
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作者 刘攀 缪淮扣 +1 位作者 曾红卫 梅佳 《软件学报》 EI CSCD 北大核心 2011年第7期1457-1474,共18页
软件测试中的一个重要问题是测试成本和测试效率的平衡问题.依据程序中错误分布的2-8定律,将测试分为两个阶段,以解决该问题.第1阶段采用最小代价发现软件中的错误,第2阶段针对第1阶段中发现的错误补充设计测试用例,探测软件中潜在的错... 软件测试中的一个重要问题是测试成本和测试效率的平衡问题.依据程序中错误分布的2-8定律,将测试分为两个阶段,以解决该问题.第1阶段采用最小代价发现软件中的错误,第2阶段针对第1阶段中发现的错误补充设计测试用例,探测软件中潜在的错误.重点是第1阶段的实现.依据确定性有限状态机和集合划分的理论,提出了确定性有限状态机的最小测试成本迁移覆盖准则,给出了最小测试成本迁移覆盖存在的充分和必要条件,设计了优化迁移覆盖和最小测试成本迁移覆盖的实现算法,并讨论了测试序列集合的有效性问题.在实验中,依据该方法不仅能够获得最小测试成本的测试用例集合,而且同样能够探测出确定性有限状态机中迁移上的错误. 展开更多
关键词 最小测试成本迁移覆盖准则 成本/效率的平衡 确定性有限状态机 迁移覆盖
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