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薄膜截面的TEM样品制备 被引量:5
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作者 戴嘉维 孔明 《理化检验(物理分册)》 CAS 2006年第5期239-241,共3页
针对用于透射电镜观察的截面样品制备较为困难的问题,以不锈钢基底上沉积的VN/SiO2超晶格薄膜为例,介绍了薄膜截面TEM样品的制备方法与过程。
关键词 薄膜 截面tem样品制备 超晶格
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