期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
某陶封FP结构器件功能失效分析及解决措施
1
作者 黄益军 席赟杰 《电子产品可靠性与环境试验》 2022年第4期41-46,共6页
针对国产陶封FP结构器件再流焊接工艺助焊剂残留导致功能失效问题,进行原因分析、故障复现,确认了失效机理。根据失效机理提出了两种改进方案,进行了环境试验验证,试验结果证明方案有效,对于提高该类产品的可靠性具有一定的参考价值。
关键词 国产化器件 陶瓷封装 扁平封装结构 助焊剂残留 三防漆 环境试验
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部