IEC火花试验装置打火间隔及灵敏度分析

电路的本质安全性能需要在IEC火花试验装置上进行爆炸试验来考核.钨丝数量以及凹槽打火间隔均影响火花试验装置的灵敏度,通常近似认为凹槽打火间隔固定为凹槽宽度2mm不变.本文通过数学计算,得到了钨丝与镉盘凹槽边缘的接触、分离规律,绘制了镉盘凹槽打火间隔分布直方图,得出凹槽打火间隔范围为1.94~5.68mm的结论.基于凹槽实际打火间隔,分析了不同时间常数下容性电路的有效打火次数,发现实际有效火花数目最大可达1952个,区别于通常认为的1600个.分析结果对提高容性电路检测灵敏度具有指导意义.

IEC火花试验装置检验局限性的探讨

目前,国际电工委员会推荐的“IEC本安电路火花试验装置”只对电压、电流和电感的上限值进行了限定,经过长期实际运行表明,随着电容性电路的电容增大,试验装置的灵敏度大大降低了。文章对阻容性电路的充放电时间及IEC火花试验装置的打火间隔进行了理论分析和计算,指出了火花试验装置检验容性电路的局限性,并首次提出了在不影响IEC火花试验装置性能指标的前提下,解决试验装置检验电容性电路局限性的新方法。