质谱计样品增量法扣本底技术研究

质谱计在分析样品气体时，常采用峰高相减法来扣除本底残气的干扰，该法不十分准确，特别是作痕量杂质分析时会引起很大误差；本文提出一种新的扣除法，称作样品增量法。改变样品进样量，然后根据各成分对应离子流的增量，计算出它们的相对浓度。由于本底残气的离子流增量为零，故而消除了残气的干扰。论文首次报导了封闭离子源独有的样品气流的喷口效应，造成了电离室内本底残气压强低于质谱室中值，采用本底残气抑制系数解出了样品杂质的真实值。