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用于微观几何形状测量的扫描探针显微技术
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作者 王晓东 常城 宋洪侠 《传感器技术》 CSCD 北大核心 2003年第9期8-11,15,共5页
随着微技术的发展,对微观结构的精确测量变得越来越重要。对能够用于微观几何形状测量的扫描探针显微技术———扫描隧道显微术(STM)、扫描光学近场显微术(SNOM)和原子力显微术(AFM)进行了比较详细的分析和介绍。
关键词 扫描探针 观几何形状 传感器 STM 扫描光学近场显微术 原子力 扫描隧道
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