CT扫描不同层厚及范围对扫描靶点的影响研究

目的:分析不同扫描厚度和范围对扫描靶点位置、形状的影响,为肿瘤治疗中CT扫描精确定位提供参考。方法:采用双源CT对TLD-T1型头模进行扫描,将头模水平放置扫描床行定位图扫描后取最大直径5 mm扫描,扫描厚度分别设置为2 mm、3 mm、5 mm及10 mm,分析扫描厚度变化对扫描直径、形状和噪声值的影响。取扫描厚度5 mm,改变扫描视野,分析不同扫描视野在200 mm、300 mm和250 mm下靶点偏移位置。结果:12 mm和3 mm扫描厚度靶区最大直径均为6 mm,依照人体视觉分析,靶点直径从大到小依次为2 mm、3 mm、5 mm和10 mm;2改变扫描厚度,靶点形状出现变化,随着扫描厚度的增加,图像形状变化逐渐规律,2 mm图像评分显著高于10 mm图像评分,差异有统计学意义(t=27.080,P<0.05);3噪声测量值逐渐减少,10 mm噪声测量值(3.52 HU)低于2 mm噪声测量值(9.06 HU),差异有统计学意义(t=8.646;P<0.05)。以扫描视野200 mm为基准,250 mm和300 mm扫描视野靶点位置沿着X轴正方面偏移分别为1.5 mm和2.0 mm。结论:不同扫描厚度和扫描范围均会影响靶点位置,对放射治疗精确定位具有很大影响,随着扫描厚度的增加,图像质量降低,噪声测量值逐渐减少,故在CT扫描中应正确掌握变化规律并采取相应的措施。

生长厚度对InGaAs/InAs薄膜表面形貌的影响

利用分子束外延技术,通过反射式高能电子衍射仪实时监控In0.86Ga0.14As/InAs薄膜生长状况,在InAs(001)基片上生长5、10、20原子单层(ML)厚度的InGaAs单晶薄膜。采用扫描隧道显微镜对原位退火后不同厚度的In0.86Ga0.14As样品进行扫描,证实了在同一组分下,薄膜生长厚度的改变并不剧烈影响薄膜的重构,然而,随着生长厚度的增加,外延层的表面拉伸应力进一步增大,平台平均尺寸逐渐减小,表面应力的累积使表面台阶数目逐渐增多,台面产生更多扭折,原子在具有各向异性的择优扩散机制与表面应力的共同作用下,In0.86Ga0.14As/InAs薄膜锯齿状的台阶边缘越明显,表面越粗糙化。

辐照加速器扫描控制波形分析

分析了工业用辐照加速器扫描系统中三角波扫描波形对电子束扫描均匀度的影响。提出改善扫描均匀度的方法,推导理想非线性扫描波形,提高工业辐照加速器扫描角度与扫描均匀度。通过时变磁场测量,分析不同厚度的扫描盒对扫描磁场及扫描均匀度的影响。