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扫描型X射线荧光显微分析仪测定汽车零部件及内饰材料中铅、镉、汞、铬和溴 被引量:1
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作者 洪颖 王金陵 +1 位作者 陈建松 张赛男 《化学分析计量》 CAS 2017年第5期16-19,共4页
建立扫描型X射线荧光显微分析仪测定汽车零部件及内饰材料中铅、镉、汞、铬和溴等元素的方法。通过改变测量条件与测量方式选择最佳试验方法,采用成像图判断样品中是否存在目标元素。结果表明,5种元素的含量在0~300 mg/kg范围内与荧光... 建立扫描型X射线荧光显微分析仪测定汽车零部件及内饰材料中铅、镉、汞、铬和溴等元素的方法。通过改变测量条件与测量方式选择最佳试验方法,采用成像图判断样品中是否存在目标元素。结果表明,5种元素的含量在0~300 mg/kg范围内与荧光强度成良好的线性关系,相关系数均大于0.993,样品加标回收率为82.3%~106.0%,测定结果的相对标准偏差为2.86%~6.63%(n=6)。该方法简单、快速,测定结果准确、可靠,适用于汽车零部件和内饰材料中有毒有害物质的筛选。 展开更多
关键词 扫描型x射线荧光显微分析仪 汽车零部件和内饰材料
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现代实验室型X射线荧光元素分布成像和形态分析技术的研究进展 被引量:6
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作者 沈亚婷 罗立强 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2021年第3期686-695,共10页
近年来,随着X射线光源、单色、聚焦及探测系统的发展,在实验室可借助低功率X射线光源开展X射线荧光(XRF)和X射线吸收谱(XAS)分析。液体金属射流源等新型X射线光源系统、闭合反馈系统、电荷耦合元件和方孔微通道板等技术和计算方法的进... 近年来,随着X射线光源、单色、聚焦及探测系统的发展,在实验室可借助低功率X射线光源开展X射线荧光(XRF)和X射线吸收谱(XAS)分析。液体金属射流源等新型X射线光源系统、闭合反馈系统、电荷耦合元件和方孔微通道板等技术和计算方法的进步促进了聚焦扫描型、全场型和XRF计算机断层扫描等实验室型XRF元素空间成像技术的发展。超环面、球面和柱状弯晶等单色聚焦系统的发展推动了实验室型XAS技术的发展。探索新型的实验室X射线光源系统,开发更高效的单色聚焦系统,推动X射线动态电影拍摄技术等将是未来研究的重要发展方向。 展开更多
关键词 x射线荧光 x射线吸收谱技术 全场 x射线成像系统 原位x射线计算机断层扫描 x射线单色器
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X射线荧光分析仪测量室粉尘污染防治
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作者 桑红山 付兴华 《水泥》 CAS 2014年第9期53-53,共1页
我公司使用的帕纳科公司AXIOS 2.4kW扫描型顺序式X射线荧光分析仪,采用硼酸衬底粉末压片法制样。使用不到4个月,因进样位置底部密封圈受污染引起测量室真空报警,只能停机维护。
关键词 x射线荧光分析仪 污染防治 测量室 粉尘 粉末压片法 顺序式 扫描 密封圈
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第一届中日双边微束分析学术讨论会纪要
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《矿物岩石地球化学通报》 CAS CSCD 1995年第1期67-68,共2页
第一届中日双边微束分析学术讨论会纪要由中国矿物岩石地球化学学会微束分析专业委员会、中国电镜学会微束分析专业委员会、全国微束分析标准化技术委员会、中国科学院广州地质新技术研究所、华南理工大学测试中心等单位和日本科学振兴... 第一届中日双边微束分析学术讨论会纪要由中国矿物岩石地球化学学会微束分析专业委员会、中国电镜学会微束分析专业委员会、全国微束分析标准化技术委员会、中国科学院广州地质新技术研究所、华南理工大学测试中心等单位和日本科学振兴会微束分析委员会联合主办的“第一届... 展开更多
关键词 分析 学术讨论会 电子探针 分析技术委员会 分析仪 中国科学院 国际标准化组织理事会 扫描电子 半导体 x射线荧光光谱仪
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活塞环表面多元多层纳米膜的组织分析 被引量:1
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作者 朱张校 陈爱国 +3 位作者 刘千喜 周永福 周加若 史大德 《汽车技术》 北大核心 2005年第7期35-37,42,共4页
采用离子镀表面处理技术,在活塞环表面获得了多元多层纳米膜。利用视频显微分析仪、扫描电子显微镜对涂层显微组织进行分析,用X射线衍射方法测定了涂层中的物相,用显微硬度计测定了涂层的显微硬度。分析结果表明,活塞环表面获得了致密... 采用离子镀表面处理技术,在活塞环表面获得了多元多层纳米膜。利用视频显微分析仪、扫描电子显微镜对涂层显微组织进行分析,用X射线衍射方法测定了涂层中的物相,用显微硬度计测定了涂层的显微硬度。分析结果表明,活塞环表面获得了致密且与基体结合良好的多元多层纳米膜,其厚度为2~5μm,单层膜的厚度为100~230nm。多元多层纳米膜由TiN、Ti2N、CrN等物相组成,显微硬度为1400~2027HV。 展开更多
关键词 纳米膜 活塞环 多层 多元 组织分析 扫描电子 x射线衍射方法 表面处理技术 分析仪 硬度计 组织 分析结果 物相组成 离子镀 涂层 单层膜 TiN 测定 厚度 基体
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