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原子力显微镜在高分子表征中的应用
被引量:
6
1
作者
王冰花
陈金龙
张彬
《高分子学报》
SCIE
CAS
CSCD
北大核心
2021年第10期1406-1420,共15页
原子力显微镜(AFM)是一种在纳米尺度表征材料表面形貌结构、性能和演变的有效工具,在高分子科学领域具有广泛应用.AFM不仅可以表征高分子从单分子链到聚集态结构的形貌与性能,也能够原位研究外场作用下高分子结晶与熔融、嵌段高分子自...
原子力显微镜(AFM)是一种在纳米尺度表征材料表面形貌结构、性能和演变的有效工具,在高分子科学领域具有广泛应用.AFM不仅可以表征高分子从单分子链到聚集态结构的形貌与性能,也能够原位研究外场作用下高分子结晶与熔融、嵌段高分子自组装和共混高分子相分离等过程,进一步采用基于扫描探针刻蚀技术的机械刻蚀、电致刻蚀和热致刻蚀等还可以构筑高分子功能化微图案.这里首先简述AFM的工作原理及常用成像模式,进一步介绍AFM在高分子表征中的样品制备、扫描参数优化和图像数据处理的一些要点.最后结合国内外相关研究进展,简单综述了AFM在高分子聚集态结构形貌与相转变表征、高分子纳米尺度性能表征和高分子纳米加工3个方面的典型应用.
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关键词
原子力显微镜
高分子表征
聚集态结构
微观性能
扫描探针刻蚀加工
原文传递
题名
原子力显微镜在高分子表征中的应用
被引量:
6
1
作者
王冰花
陈金龙
张彬
机构
郑州大学材料科学与工程学院
出处
《高分子学报》
SCIE
CAS
CSCD
北大核心
2021年第10期1406-1420,共15页
基金
国家自然科学基金(基金号51973202,51773182,52003247)资助项目。
文摘
原子力显微镜(AFM)是一种在纳米尺度表征材料表面形貌结构、性能和演变的有效工具,在高分子科学领域具有广泛应用.AFM不仅可以表征高分子从单分子链到聚集态结构的形貌与性能,也能够原位研究外场作用下高分子结晶与熔融、嵌段高分子自组装和共混高分子相分离等过程,进一步采用基于扫描探针刻蚀技术的机械刻蚀、电致刻蚀和热致刻蚀等还可以构筑高分子功能化微图案.这里首先简述AFM的工作原理及常用成像模式,进一步介绍AFM在高分子表征中的样品制备、扫描参数优化和图像数据处理的一些要点.最后结合国内外相关研究进展,简单综述了AFM在高分子聚集态结构形貌与相转变表征、高分子纳米尺度性能表征和高分子纳米加工3个方面的典型应用.
关键词
原子力显微镜
高分子表征
聚集态结构
微观性能
扫描探针刻蚀加工
Keywords
Atomic force microscopy
Polymer characterization
Aggregation structure
Nanoscale properties of polymer
Scanning probe lithography
分类号
TQ317.2 [化学工程—高聚物工业]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
原子力显微镜在高分子表征中的应用
王冰花
陈金龙
张彬
《高分子学报》
SCIE
CAS
CSCD
北大核心
2021
6
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