扫描电子显微镜和能谱仪在玻璃结石成分分析中的应用

玻璃中常见各种结石缺陷,利用透反偏光显微镜可以初步判定玻璃结石的种类,但无法分析结石的成分,且处理样品效率较低。以硅质析晶结石、铝质耐火材料结石、锆质耐火材料结石为例,利用扫描电子显微镜和能谱仪分析结石,可以快速测定结石成分,辨别结石种类,进而推断结石形成的原因。采用该方法可及时准确调整生产,解决玻璃生产中产生结石问题。

基于扫描电子显微镜-X射线能谱的矿物自动分析系统(BPMA)测定高纯石英砂中杂质矿物

杂质矿物作为高纯石英中杂质元素主要载体之一,是高纯石英砂产品中严格限定的成分,也是影响高纯石英提纯方案的关键因素,其组成、含量及赋存特征的准确分析,对高纯石英砂产品质量评价、原料选择合理性判断及提纯方案制定均有重要意义。采用基于扫描电子显微镜(SEM)和X射线能谱(EDS)的工艺矿物学参数自动分析系统(BPMA)测定了SiO_(2)纯度≥99.998%(4N8)的高纯石英砂中杂质矿物的组成、含量及嵌布特征,建立了高纯石英砂中杂质矿物的分析测定方法。结果表明,样品中石英的质量百分比为99.9988%,与高纯石英砂产品质量指标对应的SiO_(2)纯度化学分析结果基本一致;杂质矿物主要为辉石和锆石,偶见极其微量的方解石、磷钇矿、独居石和方铅矿;石英粒度均匀,主要分布在0.020~0.208 mm;杂质矿物嵌布粒度较细,绝大多数杂质矿物粒度在43μm以下,主要以微细粒矿物包裹体的形式嵌布在石英颗粒内。方法简捷高效、测量结果准确可靠,适用于高纯石英砂中杂质矿物组成、含量及赋存特征分析测定,也可以为其他高纯物料中微量杂质矿物检测提供技术借鉴。

扫描电子显微镜及X射线能谱仪在物证鉴定中的应用

在司法物证鉴定中对金属分离物的同一性认定或金属分离物成分特殊的 ,可用 X射线能谱仪快速判定 ;对金属分离物成分无特征的 ,可根据其金相组织来判定。

基于扫描电子显微镜的重矿物物源分析方法对比

重矿物继承了源岩特征,能够揭示沉积盆地与源区之间的源汇联系。扫描电镜(SEM)及自动矿物识别技术的发展,使得重矿物从人工显微镜下鉴定逐步走向自动化定量分析。本文在传统显微镜识别的基础上,分别应用扫描电镜-能谱仪/背散射成像(SEM-EDS/BSE)技术及综合矿物分析系统(TIMA)进行重矿物的鉴定和统计,对比总结不同分析方法的特点和适用性,并对准噶尔盆地西北缘中生代物源区进行初步探讨。结果表明,基于SEM的两种分析方法都可以很好地对各种重矿物进行厘定和统计:其中SEM-EDS/BSE对矿物的统计更加灵活;TIMA能够快速、准确得到多种矿物信息,但需注意蚀变矿物对原生矿物统计的影响。根据重矿物组合、重矿物成熟度(ZTR指数)及前人报道的U-Pb年龄、古水流数据,认为准噶尔盆地西北缘中生代物源主要来自扎伊尔山,其中晚三叠世—早侏罗世哈拉阿拉特山隆升并开始为克拉玛依与白砾山地区提供物源。

扫描电子显微镜及能谱仪在彩绘文物分析中的应用

本随着科技的发展,越来越多的仪器分析应用于文物保护研究领域,但在实际操作中如何选择正确有效的分析检测方法,并且能够充分的发挥仪器使用价值,是文物研究工作者需要思考的问题。本文通过工作中的实例,介绍扫描电子显微镜和能谱仪在彩绘类文物分析研究中的相关应用,以期在文物分析工作上提供一定的参考和借鉴。

双道X射线分光光谱仪及其与扫描电子显微镜的匹配

本X光谱仪是一种线性全聚焦弯晶谱仪。装备在扫描电镜上后,可使之兼具电子探针X光微区分析仪的功能。本文重点讨论了X光光谱仪的几何精度、分光晶体的制备、光谱仪与电子光学镜筒的匹配衍射峰值强度的提高、本底噪音的减低以及同轴光学显微镜的匹配等问题。X光谱仪的总几何精度应为±1′,重复精度为6″。实际结果表明,元素分析范围为B^5(Be^4)～U^(92);波长分辨率△λ/λ为1～5×10^(-3)(Na^(11)～U^(92))及1～5×10^(-2)(B^5～F^9),可分开Cu,Fe,Ti等元素的K_(α1,α2)谱线,Ti-6A1-4V合金中VK_(α1),VK_(α2)及TiK_β谱线;波长重复性为0.00014A;探测限对Na^(11)～U^(92)为10^(-3)％量级,B^5～F^9为10^(-2)％量级。

扫描电子显微镜和X射线显微分析原理及在镀层测试上的应用

扫描电子显微镜与X射线显微分析相结合，可同时进行镀层微观形貌观察和镀层成分的综合分析。

扫描电子显微镜X射线能量色散谱仪在宝玉石鉴定中的应用

介绍了在低真空模式下扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪检测宝玉石的原理与方法。对比与评估了宝玉石样品的X射线能量色散谱仪的无标样定量分析数据与其标准数据,讨论了扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪在宝玉石检测分析中存在的问题。通过与其它宝玉石检测分析仪器如X射线荧光分析仪、X射线粉末衍射仪、傅里叶变换红外光谱仪及激光拉曼光谱仪比较后认为,扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪对宝玉石无损分析鉴定是最方便、有效的手段之一。

扫描电子显微镜/能谱仪在刑事案件技术检验中的应用

通过几起典型的案例,介绍了扫描电子显微镜/能谱仪在盗窃、枪击、爆炸以及交通肇事等案件中的应用。扫描电子显微镜/能谱仪由于放大倍率、分辨率、灵敏度高,同时具有快速、简便、检材用量少且不破坏检材等特点,是刑事案件技术检验的重要工具。利用扫描电子显微镜/能谱仪检验微量物证的显微形貌、无机元素成分及各元素成分的相对含量、X-射线面的分布,可以达到定性定量分析的目的,揭露和证实犯罪事实真相。

基于X-射线衍射及扫描电子显微镜的马铃薯淀粉掺伪鉴别

目的建立一种快速、准确鉴别市售马铃薯淀粉掺伪的方法。方法将红薯、玉米及小麦淀粉按不同比例加入纯马铃薯淀粉中,通过X-射线衍射(X-ray diffraction,XRD)对样品进行结晶结构分析,并结合扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM)进行微观形貌观察。结果利用结晶类型差异,XRD可初步判别马铃薯淀粉样品是否掺入上述3种淀粉,进一步采用SEM可观察到含量1%的掺伪淀粉并对其种类进行区分。在市售12批次马铃薯淀粉中的7批次中发现存在掺伪现象,其中2批次利用扫描电镜未观察到马铃薯淀粉(小于1%)。结论市售马铃薯淀粉掺伪现象严重,利用X-射线衍射及扫描电子显微镜可快速、准确地鉴别马铃薯淀粉掺伪情况。

扫描电子显微镜和PV9900能谱仪故障排除及检修要点

对使用ＳＥＭ－５００扫描电子显微镜过程中常出现的显示屏有固定回归线、无图象或开关、计数器失灵以及能谱仪不能收集谱或其引导程序出错等故障，可以在分析原因的基础上通过不同的方法进行捡修，排除故障，以确保仪器的正常使用。

扫描电子显微镜/能谱仪和红外光谱仪在液晶调光膜结构分析中的应用

本文采用扫描电子显微镜/能谱仪(SEM/EDS)和傅立叶变换红外光谱仪(FT-IR)对一种液晶调光膜进行了结构及各层主要成分的分析。结果表明,该液晶调光膜的结构为上、下离型膜,上、下保护层,上、下电极层(ITO/PET),位于中间的液晶功能层,以及层与层之间的粘结层,共计13层。其中,上离型膜(上:即靠近粘贴玻璃的一侧),上、下保护层,以及上、下电极层的基材均为聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)。液晶功能层主要为聚合物分散液晶材料,其中,聚合物为聚氨酯类。

一种提高扫描电子显微镜-能谱空间分辨率的方法

目前,扫描电子显微镜-能谱（SEM-EDS）联用技术在分析测试领域已得到广泛应用,它可对材料和生物样品的微观表面进行形貌观察,并对样品中所选定的微区内进行元素成分定性定量以及元素分布分析。但是,由于元素的特征X射线能量高,在样品中的出射范围较深,能谱的空间分辨率较差,导致在使用传统制样方法时都不可避免地会受到来自叠加样品特征X射线以及基底材料特征X射线的干扰,从而影响最终实验结果。为了克服能谱空间分辨率不足的问题,本文应用薄片法的原理研制了一种新的装置,将纳米厚度的样品分散在装置的碳膜上,进行能谱分析。通过与传统实验的对比,附加新装置后其能谱空间分辨率较以往常规实验提高了2~4倍。

扫描电子显微镜

随着科学技术的发展进步,人们不断需要从更高的微观层次观察、认识周围的物质世界.细胞、微生物等微米尺度的物体直接用肉眼观察不到,显微镜的发明解决了这个问题.目前,纳米科技成为研究热点,集成电路工艺加工的特征尺度进入深亚微米,所有这些更加微小的物体光学显微镜也观察不到,必须使用电子显微镜.电子显微镜可分为扫描电子显微镜简称扫描电镜(SEM)和透射电子显微镜简称透射电镜(TEM)两大类.

扫描电子显微镜作X射线荧光分析，进一步扩展分析仪器功能

TESTEX最近增加了评估损伤赔偿的测试仪器，扫描电子显微镜（SEM）内的能量色散X射线荧光分析（EDX）不但能够识别单一的化学元素．更可以应付日益增加的羊绒分析需求。

扫描电子显微镜和X射线能量色散微量分析仪联用鉴定活性染料

扫描电子显微镜可观察微米级的微小物体的三维超微精细结构,但它仅仅能观察纤维表面超微精细结构的变化。能量色散X射线微量分析仪现已用于对微小物体进行无损元素分析,它通过电子枪发射的电子束打在样品表面上,然后再去探测从样品里发出的被激励的特征X射线。它可以用来识别从犯罪现场收集来的痕量纤维。

中药制剂中含砷成分扫描电子显微镜测定

采用配有能谱仪的扫描电子显微镜对含砷中药制剂中的砷进行检测，其检测方法比传统的化学方法更加准确可靠。

DX-5型实验扫描电子显微镜

本文主要叙述我厂最近试制成的DX-5型扫描电镜的性能,电子光学设计方面的一些考虑。该仪器的二次电子象的分辨率为60A～70A,有较完善的视频信号处理系统,并可配两道X光分光光谱仪一个能谱仪和一个光学显微镜。该仪器是非对称物镜,用通常的对称透镜的计算参数加以修正得到正确的象差系数。物镜磁路用近似场的假设计算。扫描线圈的设计主要在大偏转范围内给出均匀场以减少低放大倍数下的畸变。为了有效的收集二次电子,在样品附近放置一个小电极加上15V～30V的电压。一个意外的噪音来源来之于电子枪附近的背反射电子通过真空管道达探测器。为了实现电子束的合轴,在电子束交叉点附近放置一个电磁对中线圈,加上瓷瓶的精确定位可以方便合轴。文章也叙述了在调试中排除了一些问题后达到60A的分辨率。