清除微带相控阵天线扫描盲点研究进展

对微带相控阵天线中扫描盲点出现的物理机制进行了深入的分析,并讨论了其对微带相控阵扫描特性的影响。结合扫描盲点产生的必要条件,回顾总结了清除扫描盲点技术的发展概况,所涉及技术主要包括天线子阵技术、EBG技术、缺陷地技术和特异材料技术。

混合SRRs和CSRRs清除微带相控阵天线扫描盲点

基于特异材料特性设计出了一种由SRRs与CSRRs构成的混合结构。该结构具有在两个垂直的方向阻碍电磁波传播的特性,将其加载在无限微带天线阵列中,能够有效地清除相控阵天线的扫描盲点。该研究成果表明该特异材料在高性能微带天线阵列设计中具有良好的应用潜能。

相控阵天线扫描盲点抑制技术研究进展

文章分析了具有接地介质板结构和波导结构的相控阵扫描盲点产生的物理机制,阐述了盲点产生满足的条件。对如何预测扫描盲点位置进行了详述。现有的扫描盲点抑制技术有:(1)子阵技术、(2)背腔技术、(3)DGS技术(Defected Grounded Structure)、(4)EBG技术(Electromagnetic Band-Gap)、(5)电磁超材料技术。文章总结分析了各自的优缺点。

利用新型EBG结构消除相控阵天线扫描盲点

在印刷天线中,已经证明了高阻表面基板可以有效地减少表面波激励。该文研究了利用高阻表面基板的微带相控阵天线的性能。研究结果表明,利用高阻表面基板可以消除相控阵天线扫描盲点。提出了一种新颖且有效的高阻表面结构,并在高介电常数的基板上基于该结构设计及仿真了由同轴线馈电6×6的微带相控阵天线。仿真结果表明,提出的高阻表面结构可以有效地改善微带相控阵天线的性能。

高阻表面在缝隙相控阵天线中的消除盲点研究

针对扫描盲点是相控阵天线系统的一个重要问题,提出了利用高阻表面的表面波带隙特性来抑制波导端头缝隙相控阵天线的表面波,从而达到消除扫描盲点的目的。同时文中采用周期矩量法对三角形和正方形栅格排列的相控阵天线的扫描特性进行数值计算,证实了高阻表面用于消除相控阵扫描盲点的可行性和有效性。

EBG结构在介质覆层波导缝隙相控阵中的应用

针对加载天线罩对于波导端头缝隙相控阵的天线性能和扫描盲点起到的恶化作用,提出了在阵面缝隙单元间加载EBG周期单元结构的方案,该方案结合了加载天线罩阵列缝隙之间的耦合特性以及EBG周期结构的抑制表面波特性,通过典型实例的数值仿真验证,消除了加载天线罩阵列的扫描盲点,展宽扫描范围,改善了天线阵的性能。

一种基于类表面等离子体激元的二维无限大天线阵的设计

本文设计了一种基于支持类表面等离激元传播的周期金属柱底板的二维无限大天线阵.该天线阵周期单元由一个偶极子天线和4×4的周期金属柱底板构成.仿真结果表明:在工作频率为5GHz的情况下,天线阵可以在E面和H面都实现50°的扫描范围,并具有良好的阻抗匹配性能(S11<0.1).利用数值分析,我们发现类表面等离激元模式会被天线阵的高阶弗洛奎激发,该模式受到天线阵周期调制会从表面模式转变成泄漏模式,同时,该模式的色散曲线非常平,并且其电场在x和y方向具有良好的对称性,所以它能在多面广角度范围内都帮助天线阵辐射.