扫描静电力显微镜及其电荷捕获/释放技术

介绍扫描静电力显微测量及用其实现电荷捕获释放的技术现状、发展动向 ,以及关键技术的一些最新成果。前者已被广泛应用于测量半导体表面电荷密度分布、表面电势以及铁电材料铁电体结构的研究中 ;后者可望用于研制速度和存贮容量都比现在提高成千上万倍的量子器件。最后 。

基于微石英晶振的动态非接触静电力显微测量(EFM)技术

在一台基于微晶振的原子力显微镜的基础上 ,通过在针式传感器前端细小针尖加入可调交流偏压 ,获得高分辨率动态非接触静电力显微镜。此装置可以分别利用微小针尖与样品间的范德华力与附加的可调静电力信号 ,同时获得样品表面微观形貌特征和表面电特性 ,如表面电荷分布。

扫描探针显微镜与分析测量仪器的组合应用

简要介绍了扫描探针显微镜与光学显微镜、扫描电子显微镜、表面分析仪器、表面增强RAMAN光谱仪、傅立叶变换红外反射吸收光谱仪。

实现变温扫描的扫描探针显微镜的发展与应用

将实现微尺度温度测量的技术按其温度控制方式分为两类,即控制探针的温度和控制样品的温度,所对应的仪器为扫描热显微镜和各类可直接应用于普通扫描探针显微镜的变温样品台,分别介绍其结构、工作原理及应用情况,分析了这两类具有不同控温方式的仪器的区别,并进一步讨论了目前在扫描探针显微镜变温辅助设备中仍然存在的问题以及实现变温扫描的扫描探针显微镜的发展前景。

光子扫描隧道显微镜和扫描隧道显微镜联用系统的研制

报导我们研制的一套光子扫描隧道显微镜（ＰＳＴＭ）和扫描隧道显微镜（ＳＴＭ）联用系统的初步实验结果。联用系统采用的基本结构为早先研制的一台ＰＳＴＭ，另外增加了一个ＳＴＭ通道，通过真空蒸镀金膜制作了既导电又导光的光纤探针，联用系统用ＳＴＭ通道隧道电流反馈控制探针高度。初步实验结果表明，ＰＳＴＭ和ＳＴＭ通道既能分别单独成像，亦能用导电导光探针实现ＰＳＴＭ和ＳＴＭ同时成像。

基于Linux的单机全数字控制的扫描探针显微镜

扫描探针显微镜的全数字控制通常采用数字信号处理器来进行,而PC机只辅助进行数据处理和显示。本文给出一种新的全数字控制方案,即在普通PC机上使用修改了内核的Linux操作系统实现对扫描探针显微镜进行多线程、高精度的实时控制。这种方法省掉了数字信号处理器的硬件开销及其与PC机通信部分的技术投入,而充分利用PC机自身强大的运算和编程功能,实现了对扫描探针进行任意方式的操控。此方法已成功应用于一套实验室自制的超高真空扫描隧道显微镜中,得到了清洁Si(111)表面7×7重构的原子分辨像。

扫描探针显微镜（SPM）在精密尺寸计量中的应用

由于其原子量级的分辨力和固有的测量原理，ＳＰＭ很适合于精密尺寸和形貌的测量。但是，一般的ＳＰＭ并不是专为精密测量而设计的，其结构上存在着许多误差因素，较大地影响了测量结果。本文从测量角度出发，分析了各误差因素在测量结果中的表现形式，并给出了相应的提高测量精度的方法。实验结果证明了这些方法很好地提高了ＳＰＭ尺寸测量的精度。

专利名称：在扫描探针显微镜悬臂及其针尖上沉积薄膜的方法

一种利用荷能团簇在扫描探针显微镜悬臂及其针尖上沉积薄膜的方法，包括下列步骤：溅射室的溅射靶架放置溅射靶材；在沉积室的靶架上粘贴扫描探针显微镜（AFM）的悬臂，并确保针尖向外；使靶架和待沉积薄膜的AFM悬臂处于一铜屏蔽室中；用两套真空系统同时分别对溅射室和沉积室抽真空；在溅射室中充入惰性气体Ar，使溅室真空度达8～20Pa，

CAMEBAX-MB1型电子探针扫描系统故障修复

对CAMEBAX -MB1型电子探针的扫描系统进行了检修 ,分析了故障原因 ,排除了故障 ,使扫描系统完全恢复正常 ,达到了原设计的技术指标 。

四探针扫描隧道显微镜

据国家自然科学基金委员会2006年8月18日报道，中科院物理所高鸿钧小组自行设计与研制了可原位生长、构造和研究介观体系的电、光、力学特性的分子束外延一四探针扫描隧道显微镜（MBE-4P—STM）联合系统，在国际上独具特色。该系统可在超高真空环境下制备与构造纳米体系，可用扫描隧道显微镜对其表面电子结构进行表征．用四探针方法研究电子输运性质，同时可研究纳米结构的光学特性，为系统地研究介观小尺度体系的物理、化学性质提供了强有力的工具，目前初步取得了一些有意义的研究结果。

PSTM光纤探针腐蚀系统的研制

本文分析了光纤探针的制作方法 ;介绍了一种制作光纤探针的自动控制系统 ;给出了系统的基本结构和基本电路 ;用本系统进行了实际制作。

纳米级Z轴坐标测量系统设计与实验

基于最小化阿贝误差的理念,设计了带有重力补偿器的整体结构对称的Z轴测量平台,其次,使用扫面静电力显微镜组成配套的探针系统,最后,对设计的核心内容分两组进行分离测试以验证设计的合理性与有效性。测试首先验证了测量系统分别在静态和动态下重力补偿器的可行性,然后验证经过双高度法补偿后的扫描静电力显微镜探针系统的有效性,实验结果表明,设计的纳米级Z轴坐标测量系统可实现超高精度空间分辨率,具有50 mm的有效行程范围,同时具有对部分非导体的测量能力,使得微纳米测量机的适用范围得到延伸,具有较高的应用价值。

VirtualLab Fusion对SNOM光纤探针外部光场分布的仿真

为了研究扫描近场光学显微镜(SNOM)光纤探针的光学特性,采用基于场追迹方法的光学软件Virtual Lab Fusion进行了仿真实验,取得了SNOM光学探针尖端外部光场的分布情况。结果表明,沿z轴方向,不同截面上的光场分布都会呈现小孔衍射的图案,其中心斑点中心强度随着z值的变大而呈近似指数函数衰减,到z=100nm位置处几乎衰减为0;中心斑点轮廓线的半峰全宽随着z值的变大而呈现先不变后增大的趋势,其拐点处于z=20nm位置处,此时对应的中心强度值为7.2V/m^2,这个强度值按指数函数计算正好处于z=0nm位置处强度的e^(-2)。结果清晰显示了SNOM光学探针的光学特性,证实SNOM探针工作时需要与样品表面保持在10nm左右的必要性。

利用Winsock实现基于Internet的多用户远程分权访问控制STM系统

Winsock是目前Windows平台下的主流网络编程技术。主要介绍利用Winsock编写网络通信程序 。

扫描探针显微镜系统的各种组合方式

综述了扫描探针显微镜(SPM)系统中显微镜主体部分的各种结构方式,分析其优缺点,对新型SPM的设计提供了参考。

眼镜、放大镜、显微镜、望远镜

TH734 99032038红外望远镜光机优化设计的研究=Study of optimizationfor IR telescope opto-mechanical design[刊,中]/李芒(华北光电技术所.北京(100015))//激光与红外.—1998,28(5).

眼镜、放大镜、显微镜、望远镜

TH742 2000064267共焦扫描光学显微镜的高分辨率=High resolutionof confocal scanning optical microscopes[刊,中]/高万荣,陶纯堪,聂守平,刘明,卞松龄(南京理工大学电光学院.江苏,南京(210094))//光学技术.—1999,(3).—4-7讨论了共焦扫描光学显微镜的高分辨率性质,指出共焦扫描显微镜由于采用点探测器,因而视场大大减小,信噪比大大提高,同时每幅图像逐点扫描形成,在光学系统信息能力不变的前提下,系统的空间域通带宽度增加和时域通带宽度减小。因而可成高分辨率的像。

眼镜、放大镜、显微镜及显微术

TH742 97063971高级研究显微镜中物镜、聚光器变换的电动、自动控制=Automatic of electric controlling objectiveand condenser turn in advanced research micro-scope[刊,中]/刘健(重庆建筑高等专科学校.四川,重庆(630030))∥光学仪器.—1996,18(4).