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电子产品的批产化调试工艺革新
1
作者
张明
韦厚余
索超
《电子质量》
2020年第7期85-87,共3页
针对电子产品在批产化调试过程中制约调试效率及调试质量提高的因素进行分析,提出了电子产品批产化调试工艺的新思路,经过对调试工具、工序流程、自动化测试工装等一系列技术改进,可以有效提高电子产品批产化的调试效率及产品质量。
关键词
批产化调试工艺
工序流程
自动
化
测试工装
技术改进
下载PDF
职称材料
题名
电子产品的批产化调试工艺革新
1
作者
张明
韦厚余
索超
机构
连云港杰瑞电子有限公司
出处
《电子质量》
2020年第7期85-87,共3页
文摘
针对电子产品在批产化调试过程中制约调试效率及调试质量提高的因素进行分析,提出了电子产品批产化调试工艺的新思路,经过对调试工具、工序流程、自动化测试工装等一系列技术改进,可以有效提高电子产品批产化的调试效率及产品质量。
关键词
批产化调试工艺
工序流程
自动
化
测试工装
技术改进
Keywords
Batch production debugging craft
Process flow
Automatic testing fixture
Technical improvements
分类号
TN06 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
电子产品的批产化调试工艺革新
张明
韦厚余
索超
《电子质量》
2020
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