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电子产品的批产化调试工艺革新
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作者 张明 韦厚余 索超 《电子质量》 2020年第7期85-87,共3页
针对电子产品在批产化调试过程中制约调试效率及调试质量提高的因素进行分析,提出了电子产品批产化调试工艺的新思路,经过对调试工具、工序流程、自动化测试工装等一系列技术改进,可以有效提高电子产品批产化的调试效率及产品质量。
关键词 批产化调试工艺 工序流程 自动测试工装 技术改进
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