期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
批量准则下的控制图在完全检验中的最优设计
1
作者 谢琍 《北京工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第5期690-696,共7页
为了帮助企业提高产品质量,减少生产成本,对于对产品采用完全检验的企业,提出了在批量准则下,建立生产过程的期望质量损失成本最优模型,并进行了大量的数值实验,结果表明该准则下的期望质量损失成本总体上优于其他准则.
关键词 批量准则 预警线 完全检验 最优设计
下载PDF
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部